[发明专利]立体影像编码装置、立体影像解码装置、立体影像编码方法、立体影像解码方法、立体影像编码程序以及立体影像解码程序有效

专利信息
申请号: 201280067042.6 申请日: 2012-10-05
公开(公告)号: CN104041024A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 妹尾孝宪;市桥保之;佐佐木久幸;山本健词;大井隆太朗;栗田泰市郎 申请(专利权)人: 独立行政法人情报通信研究机构
主分类号: H04N13/00 分类号: H04N13/00;H04N19/50
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 立体 影像 编码 装置 解码 方法 程序 以及
【权利要求书】:

1.一种立体影像编码装置,对多视点影像以及深度图进行编码,该深度图是上述多视点影像中的每个像素的视点间视差即深度值的信息的图,该立体影像编码装置的特征在于,具备:

基准视点影像编码单元,其对上述多视点影像中的基准视点的影像即基准视点影像进行编码,以基准视点影像位流来输出;

中间视点深度图合成单元,其使用基准视点深度图和副视点深度图来生成中间视点深度图,该基准视点深度图是上述基准视点的深度图,该副视点深度图是副视点的深度图,该副视点是上述多视点影像中的上述基准视点以外的视点,该中间视点深度图是上述基准视点与上述副视点的中间视点的深度图;

深度图编码单元,其对上述中间视点深度图进行编码,以深度图位流来输出;

深度图解码单元,其对编码后的上述中间视点深度图进行解码,生成解码中间视点深度图;

投影影像预测单元,其从上述副视点的影像切出使用上述解码中间视点深度图将上述基准视点影像投影至其它视点时成为无法投影的像素区域即遮蔽孔的像素来生成残差影像;以及

残差影像编码单元,其对上述残差影像进行编码,以残差影像位流来输出,

其中,上述投影影像预测单元具有:

遮蔽孔检测单元,其检测使用上述解码中间视点深度图将上述基准视点影像投影至上述副视点时成为遮蔽孔的像素;以及

残差影像切出单元,其从上述副视点的影像切出上述遮蔽孔检测单元所检测出的成为遮蔽孔的像素来生成上述残差影像。

2.根据权利要求1所述的立体影像编码装置,其特征在于,

上述遮蔽孔检测单元具有:

副视点投影单元,其将上述解码中间视点深度图投影至上述副视点,生成作为上述副视点的深度图的副视点投影深度图;以及

孔像素检测单元,其在上述副视点投影深度图中,针对每个像素进行以下检测:对作为是否为上述成为遮蔽孔的像素的判定对象而被关注的像素即关注像素,在从该关注像素起向上述基准视点侧离开规定的像素数的像素的深度值比上述关注像素的深度值大规定的值以上的情况下,将上述关注像素检测为上述成为遮蔽孔的像素。

3.根据权利要求2所述的立体影像编码装置,其特征在于,

上述遮蔽孔检测单元还具有使孔掩模膨胀规定的像素数的孔掩模膨胀单元,该孔掩模表示由上述孔像素检测单元检测出的像素的位置,上述残差影像切出单元从上述副视点的影像切出由上述孔掩模膨胀单元膨胀后的孔掩模所包含的像素来生成上述残差影像。

4.根据权利要求2或3所述的立体影像编码装置,其特征在于,

上述遮蔽孔检测单元还具有:

第二孔像素检测单元,其在上述解码中间视点深度图中,针对每个像素进行以下检测:对作为是否为上述成为遮蔽孔的像素的判定对象而被关注的像素即关注像素,在从该关注像素起向上述基准视点侧离开规定的像素数的像素的深度值比上述关注像素的深度值大规定的值以上的情况下,将上述关注像素检测为上述成为遮蔽孔的像素;

第二副视点投影单元,其将上述第二孔像素检测单元的检测结果投影至上述副视点;以及

孔掩模合成单元,其将上述孔像素检测单元的检测结果以及由上述第二副视点投影单元投影后的上述第二孔像素检测单元的检测结果的逻辑或作为上述遮蔽孔检测单元的检测结果。

5.根据权利要求4所述的立体影像编码装置,其特征在于,

上述遮蔽孔检测单元还具有:

指定视点投影单元,其将上述解码中间视点深度图投影至任意的指定视点的位置,生成上述指定视点的深度图即指定视点深度图;

第三孔像素检测单元,其在上述指定视点深度图中,针对每个像素进行以下检测:对作为是否为上述成为遮蔽孔的像素的判定对象而被关注的像素即关注像素,在从该关注像素起向上述基准视点侧离开规定的像素数的像素的深度值比上述关注像素的深度值大规定的值以上的情况下,将上述关注像素检测为上述成为遮蔽孔的像素;以及

第三副视点投影单元,其将上述第三孔像素检测单元的检测结果投影至上述副视点,

上述孔掩模合成单元将上述孔像素检测单元的检测结果、由上述第二副视点投影单元投影后的上述第二孔像素检测单元的检测结果以及由上述第三副视点投影单元投影后的上述第三孔像素检测单元的检测结果的逻辑或作为上述遮蔽孔检测单元的检测结果。

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