[发明专利]半导体装置以及使用了该半导体装置的电力变换装置在审
申请号: | 201280068033.9 | 申请日: | 2012-01-26 |
公开(公告)号: | CN104067394A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 桥本贵之;增永昌弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L21/8234;H01L27/04;H01L27/06;H01L27/088;H01L29/739;H01L29/78 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王亚爱 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 以及 使用 电力 变换 | ||
1.一种半导体装置,具备:
第1导电型半导体基板;
阳极区域,其设置于所述半导体基板的第1表面;
第1导电型阴极区域,其设置于所述半导体基板的第2表面;和
阳极电极,
所述半导体装置的特征在于,
在所述第1表面,具备第1导电型阳极区域与第2导电型阳极区域相邻的结构,
所述第2导电型阳极区域与所述阳极电极相连接,
所述第1导电型阳极区域经由开关与所述阳极电极相连接。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
在所述第2导电型阳极区域与所述半导体基板的边界面,设置第1导电型空穴势垒层,
所述第1导电型空穴势垒层的杂质浓度高于所述半导体基板的杂质浓度。
3.一种半导体装置,具备:
第1导电型半导体基板;
阳极区域,其设置于所述半导体基板的第1表面;
第1导电型阴极区域,其设置于所述半导体基板的第2表面;和
阳极电极,
所述半导体装置的特征在于,
在所述第1表面设置如下结构:第1导电型阳极区域与第2导电型阳极区域被该半导体基板的第1导电体隔开并且相接近,
所述第1导电型阳极区域比所述第2导电型阳极区域薄,并且经由开关与所述阳极电极相连接,
所述第2导电型阳极区域与所述阳极电极相连接。
4.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
在所述第1导电型阳极区域与所述半导体基板的边界面,设置有第2导电型层。
5.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
还具备控制部,该控制部控制为:在正向电压被施加到该半导体装置的期间,所述开关反复接通/断开。
6.根据权利要求5所述的半导体装置,其特征在于,
所述控制部控制为:在反向电压被施加到该半导体装置的期间,使所述开关接通。
7.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
所述开关为MOSFET。
8.一种半导体装置,具备第1导电型半导体基板,
所述半导体装置的特征在于,在所述半导体基板的第1表面,具备:
第2导电型沟道区域;
栅极电极,其设置于贯通所述沟道区域而到达所述半导体基板的沟槽,并通过栅极绝缘膜与所述半导体基板以及所述沟道区域相绝缘;
第1导电型阳极区域,其设置在所述沟道区域的表面且与所述栅极绝缘膜相接的部位;和
阳极电极,其与所述沟道区域以及所述阳极区域相接。
9.根据权利要求8所述的半导体装置,其特征在于,
还具备控制部,在正向电压被施加到该半导体装置的期间,该控制部对所述栅极电极反复输出导通信号和截止信号。
10.根据权利要求8所述的半导体装置,其特征在于,
还具备控制部,在反向电压被施加到该半导体装置的期间,该控制部对所述栅极电极输出导通信号。
11.一种半导体装置,其具备第1导电型的半导体基板,
所述半导体装置的特征在于,
在所述半导体基板的第1表面,具备:
第2导电型沟道区域;
栅极电极,其设置于贯通所述沟道区域而到达所述半导体基板的沟槽,并通过栅极绝缘膜与所述半导体基板以及所述沟道区域相绝缘;
第1导电型发射极区域,其设置在所述沟道区域的表面且与所述栅极绝缘膜相接的部位;和
发射极电极,其与所述沟道区域以及该发射极区域相接,
在所述半导体基板的第2表面,具备第1导电型集电极区域与第2导电型集电极区域相邻的结构,
所述第2导电型集电极区域与集电极电极相连接,
所述第1导电型集电极区域经由开关与所述集电极电极相连接。
12.根据权利要求11所述的半导体装置,其特征在于,
在所述第2导电型集电极区域与所述半导体基板的边界面,设置第1导电型空穴势垒层,所述第1导电型空穴势垒层的杂质浓度高于所述半导体基板的杂质浓度。
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