[发明专利]光电动势元件及其制造方法、太阳能电池模块有效

专利信息
申请号: 201280071065.4 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN104205359A 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 松浦努;山林弘也;时冈秀忠 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L31/068 分类号: H01L31/068;H01L31/0747;H01L31/20
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张丽
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电动势 元件 及其 制造 方法 太阳能电池 模块
【权利要求书】:

1.一种光电动势元件的制造方法,包括:

在半导体晶体基板的一方的面的第1区域形成n型半导体层的工序;

在所述一方的面的第2区域形成p型半导体层的工序;

在包括所述n型半导体层以及所述p型半导体层的表面的所述一方的面,一并形成以氧化物为主成分的接触电极层的工序;

调整所述第1区域上或者所述第2区域上的所述接触电极层的载流子浓度,以使所述第1区域上的所述接触电极层的载流子浓度大于所述第2区域上的所述接触电极层的载流子浓度的工序;以及

断开所述第1区域上的所述接触电极层和所述第2区域上的所述接触电极层的工序。

2.根据权利要求1所述的光电动势元件的制造方法,其特征在于,

半导体晶体基板是硅晶片,

构成接触电极层的氧化物包含氧化铟、氧化钛、氧化锡以及氧化锌中的某一种。

3.根据权利要求2所述的光电动势元件的制造方法,其特征在于,

包括在半导体晶体基板的一方的面形成本征硅层的工序,

n型半导体层以及p型半导体层是非晶硅膜,

在所述本征硅层上形成所述n型半导体层以及所述p型半导体层。

4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的光电动势元件的制造方法,其特征在于,

调整第2区域上的接触电极层的载流子浓度的工序包括:

配置覆盖第1区域上的接触电极层的保护掩模的工序;以及

向所述第2区域上的所述接触电极层照射氧化性的等离子体的工序。

5.根据权利要求1至3中的任意一项所述的光电动势元件的制造方法,其特征在于,

调整第1区域的接触电极层的载流子浓度的工序包括:

配置覆盖第2区域上的接触电极层的保护掩模的工序;以及

向所述第1区域上的所述接触电极层照射还原性的等离子体的工序。

6.根据权利要求1至5中的任意一项所述的光电动势元件的制造方法,其特征在于,

向将第1区域和第2区域隔开的第3区域上照射激光,断开第1区域上的接触电极层和第2区域上的接触电极层。

7.根据权利要求1至5中的任意一项所述的光电动势元件的制造方法,其特征在于,包括:

在第1区域上以及第2区域上的接触电极层上形成金属电极层的工序;以及

对将第1区域和第2区域隔开的第3区域的接触电极层进行湿蚀刻的工序。

8.根据权利要求6或者7所述的光电动势元件的制造方法,其特征在于,

包括在将第1区域和第2区域隔开的、本征硅层表面的第3区域配置绝缘性部件的工序。

9.一种光电动势元件,具有:

n型半导体层,形成于半导体晶体基板上的第1区域;

p型半导体层,形成于所述半导体晶体基板上的第2区域;

第1接触电极层,形成于所述n型半导体层上;

第2接触电极层,形成于所述p型半导体层上;以及

金属电极层,形成于所述第1接触电极层以及第2接触电极层上,

所述第1接触电极层以及第2接触电极层是一并地制作的导电性氧化物膜,

所述第1接触电极层的载流子浓度大于所述第2接触电极层的载流子浓度。

10.根据权利要求9所述的光电动势元件,其特征在于,

半导体晶体基板是硅晶片,

构成第1接触电极层以及第2接触电极层的氧化物包含氧化铟、氧化钛、氧化锡以及氧化锌中的某一种。

11.根据权利要求10所述的光电动势元件,其特征在于,

半导体晶体基板的一方的面包括本征硅层,

n型半导体层以及p型半导体层是形成在所述本征硅层上的非晶硅膜。

12.一种太阳能电池模块,其特征在于,

排列多个权利要求9至11中的任意一项所述的光电动势元件,电气地串联或者并联地连接而成。

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