[发明专利]质量分析装置

权利要求书

1.一种质量分析装置，在离子源与检测器之间具备离子输送光学元件，具有基于对试样中的规定成分进行质量分析而得到的结果将对上述离子输送光学元件施加的电压最优化的调整功能，该质量分析装置的特征在于，还具备：

a)电压施加单元，其是使对上述离子输送光学元件的施加电压的电压值以规定步宽阶段性地变化的单元，与该电压值相应地变更上述步宽；以及

b)最佳电压搜索单元，其每当利用上述电压施加单元改变施加电压时，获取与源自规定成分的离子对应的离子强度信息，基于该离子强度信息求出提供最大的离子强度的电压值。

2.根据权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，

上述电压施加单元以使步宽随着施加电压的电压值的绝对值变大而变宽的方式连续地或者阶段性地变更该步宽。

3.一种质量分析装置，在离子源与检测器之间具备离子输送光学元件，具有基于对试样中的规定成分进行质量分析而得到的结果将对上述离子输送光学元件施加的电压最优化的调整功能，该质量分析装置的特征在于，还具备：

a)电压施加单元，其是使对上述离子输送光学元件的施加电压的电压值以规定步宽阶段性地变化的单元，与作为分析对象的离子的质量电荷比相应地变更上述步宽；以及

b)最佳电压搜索单元，其每当利用上述电压施加单元改变施加电压时，获取与源自规定成分的离子对应的离子强度信息，基于该离子强度信息求出提供最大的离子强度的电压值。

4.根据权利要求3所述的质量分析装置，其特征在于，

上述电压施加单元以使步宽随着作为分析对象的离子的质量电荷比变大而变宽的方式连续地或者阶段性地变更该步宽。