[发明专利]响应于数据访问执行存储装置的刷新有效
申请号: | 201280074861.3 | 申请日: | 2012-10-22 |
公开(公告)号: | CN104488031B | 公开(公告)日: | 2018-05-25 |
发明(设计)人: | 布莱纳·D·盖瑟;达雷尔·N·埃莫特;利迪娅·韦内斯 | 申请(专利权)人: | 慧与发展有限责任合伙企业 |
主分类号: | G11C11/401 | 分类号: | G11C11/401;G11C11/406;G11C11/4063 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 严芬;康泉 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储装置 数据访问 采样 刷新操作 响应 | ||
存储装置中的数据访问被采样。响应于所采样的数据访问,刷新操作在存储装置中执行。
技术领域
提供刷新控制方法、刷新控制设备以及刷新控制系统。
背景技术
存储装置包括存储数据值的存储单元。一种示例类型的存储装置是动态随机存取存储器(DRAM)装置。随着存储器制造技术的进步,存储单元的特征尺寸已减小以增加存储装置中存储单元的密度。增加存储单元密度提供存储装置中增加的存储容量。
发明内容
提供一种刷新控制方法包括:通过处理电路对存储装置中的存储位置处的数据访问采样;以及通过所述处理电路生成刷新命令以在所述存储装置中执行刷新操作,其中生成所述刷新命令是响应于所采样的数据访问中的至少一个。
其中对所述数据访问采样包括:选择所述存储装置中的存储位置处的数据访问集合的子集。
其中对所述数据访问采样包括:每隔所述集合中规定数量的数据访问来选择所述集合中所述数据访问中的一个数据访问,并且其中响应于所选择的数据访问生成所述刷新命令。
其中响应于所选择的数据访问以及所采样的另一数据访问生成所述刷新命令。
进一步包括:在不同的时间改变所述规定数量。
其中改变所述规定数量包括:随机改变所述规定数量。
进一步包括:提供计数器以对所述规定数量计数,其中所述计数器的失效触发所述一个数据访问的选择;以及一旦所述计数器失效,就重新启动所述计数器以允许另一采样的触发。
其中生成所述刷新命令包括:生成规定要刷新的所述存储装置中存储单元的集合的所述刷新命令。
其中所规定的集合包括被所采样的至少一个数据访问访问的组的邻近组。
其中所述处理电路被包括在以下之一中:所述存储装置、所述存储装置外部的存储控制器、或生成访问所述存储装置的请求的处理器。
提供一种刷新控制设备包括处理电路,用于:从存储装置中存储位置处的多个数据访问中选择至少一个数据访问;以及响应于所选择的至少一个数据访问,生成刷新命令以在所述存储装置中执行刷新操作。
其中响应于所述刷新命令执行的所述刷新操作是解决由所述多个数据访问导致的潜在干扰的按需刷新操作。
其中所述刷新操作另外还是根据特定刷新策略执行的刷新操作,所述特定刷新策略确保所述存储装置中的给定存储单元每隔规定的时间间隔被刷新至少一次。
其中所述刷新操作在邻近所选择的至少一个数据访问的存储位置的存储单元中执行。
提供一种刷新控制系统包括:存储装置;以及存储控制器,具有包括计数器的刷新控制逻辑,其中所述刷新控制逻辑用于:响应于所述计数器的失效对所述存储装置的数据访问采样;并且响应于所采样的数据访问生成刷新操作。
附图说明
关于下图描述一些实施例:
图1是根据一些实施方式的包括存储装置和处理电路的示例布置的框图;
图2是根据一些实施方式的示例存储装置的框图;
图3是根据一些实施方式的刷新控制过程的流程图;以及
图4是根据一些实施方式的刷新控制逻辑的框图。
具体实施方式
随着存储装置的存储单元由于特征尺寸减小而变得密度更大,存储单元可对损坏存储在存储单元中的数据的各种噪声源变得更加敏感。一种类型的噪声源包括由数据访问操作导致的干扰,其中在一组存储单元上执行的数据访问操作可导致至少另一组存储单元的干扰。
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