[发明专利]具有MR‑断层扫描仪、X射线源和X射线探测器的混合‑检查系统有效

专利信息
申请号: 201280075949.7 申请日: 2012-09-21
公开(公告)号: CN104641246B 公开(公告)日: 2017-09-15
发明(设计)人: O.海德;J.黑勒;T.休格斯;M.克勒曼 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/48 分类号: G01R33/48;A61B6/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 梁冰,宣力伟
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 mr 断层 扫描仪 射线 探测器 混合 检查 系统
【权利要求书】:

1.检查系统(10、20、30),

具有带有用于产生磁场的螺线管(120)的磁共振断层扫描仪(100),其中,所述螺线管(120)包围检查室(110),

其中,在所述检查室(110)内布置有第一X射线源(150)和第一X射线探测器(160),

其中,在所述检查室(110)内布置有高频线圈(140、240),

其中,所述高频线圈(240)与所述第一X射线源(150)刚性地连接,

其中,所述第一X射线源(150)和第一X射线探测器(160)能够围绕沿着所述检查室(110)的纵向方向布置的旋转轴线(175)转动,并且

其中,所述第一X射线源(150)和第一X射线探测器(160)被彼此刚性地连接起来。

2.根据权利要求1所述的检查系统(10、20、30),

其中,在所述检查室(110)内布置具有第一梯度线圈部(131)和第二梯度线圈部(132)的梯度线圈(130),

其中,所述第一梯度线圈部(131)和第二梯度线圈部(132)沿轴向方向间隔开,

其中,将所述第一X射线源(150)和第一X射线探测器(160)布置在所述第一梯度线圈部(131)和第二梯度线圈部(132)之间。

3.根据权利要求2所述的检查系统(10、20、30),

其中,所述高频线圈(140、240)被布置在所述第一梯度线圈部(131)和第二梯度线圈部(132)之间。

4.根据上述权利要求之一所述的检查系统(30),

其中,在所述检查室(110)内布置有第二X射线源(350)和第二X射线探测器(360)。

5.根据权利要求4所述的检查系统(30),

其中,所述第一X射线源(150)和所述第二X射线源(350)被彼此刚性地连接起来。

6.根据权利要求5所述的检查系统(30),

其中,以围绕沿着所述检查室(110)的纵向方向布置的旋转轴线(175)的转动为参照,所述第二X射线源(350)相对于所述第一X射线源(150)错开一角度(351)。

7.根据权利要求6所述的检查系统(30),

其中,所述角度(351)为90度。

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