[其他]测量装置有效
申请号: | 201290001131.6 | 申请日: | 2012-12-10 |
公开(公告)号: | CN204334775U | 公开(公告)日: | 2015-05-13 |
发明(设计)人: | J-F·埃弗斯-塞内;M·斯特拉特曼;M·施米德尔;J·朗格 | 申请(专利权)人: | 特斯托股份公司 |
主分类号: | H04N5/349 | 分类号: | H04N5/349;H04N5/33;G06T3/40 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 闫娜 |
地址: | 德国伦*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 | ||
1.一种测量装置(1),该测量装置包括在不可见光谱范围中进行拍摄的摄像机(2),所述摄像机具有探测器(3),该探测器被设置用于在不可见光谱范围中进行拍摄并且提供具有拍摄图像分辨率的拍摄区(4),并且该测量装置还包括图像处理单元(5),该图像处理单元被设置用于通过将一个景物的用所述探测器(3)以所述拍摄图像分辨率拍摄的至少两个图像(6、7)相结合而生成具有输出图像分辨率的超分辨率图像,其中,所述输出图像分辨率大于所述拍摄图像分辨率,其特征在于,设有能够机械式和/或电气式运行的模式机构(8),通过所述模式机构,在所述探测器(3)的拍摄区(4)中成像的景物的位置能够被改变。
2.根据权利要求1所述的测量装置(1),其特征在于,所述模式机构(8)被设置用于产生或激发机械振动。
3.根据权利要求1或2所述的测量装置(1),其特征在于,所述模式机构(8)具有在不可见光谱范围中进行光学作用的元件(19),所述元件在不可见光谱范围中的光学性质和/或所述元件在所述摄像机(2)的光路中的位置能够被机械式和/或电气式改变。
4.根据权利要求1或2所述的测量装置(1),其特征在于,所述模式机构(8)被设置用于使所述摄像机(2)的至少一个部件(12)运动;和/或所述模式机构(8)被设置用于实施不规则的运动过程。
5.根据权利要求4所述的测量装置(1),其特征在于,所述模式机构(8)被设置用于使所述探测器(3)的至少一个部件运动。
6.根据权利要求4所述的测量装置(1),其特征在于,所述模式机构(8)被设置用于实施随机的和/或不受控制的运动过程。
7.根据权利要求1或2所述的测量装置(1),其特征在于,所述图像处理单元(5)具有粗略套准单元(21),所述粗略套准单元被设 置用于对所拍摄的多个图像(6、7)中的图像进行粗略套准。
8.根据权利要求1或2所述的测量装置(1),其特征在于,所述图像处理单元(5)被设置用于实施一种优化方法,其中,各图像(6、7)相对于彼此的亚像素精度的移位能够作为所述优化方法的变化参数使用。
9.根据权利要求8所述的测量装置(1),其特征在于,所述图像处理单元(5)被设置用于实施在粗略套准之后的优化方法,其中,经粗略套准的各图像(6、7)相对于彼此的亚像素精度的移位能够作为所述优化方法的变化参数使用。
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