[发明专利]内存条的电压测试装置及方法无效
申请号: | 201310001879.7 | 申请日: | 2013-01-05 |
公开(公告)号: | CN103915120A | 公开(公告)日: | 2014-07-09 |
发明(设计)人: | 胡浩 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 内存条 电压 测试 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种电压测试装置及方法,特别是涉及一种内存条的电压测试装置及方法。
背景技术
内存条是连接CPU和其他设备的通道,起到缓冲和数据交换作用。内存条在出厂之间需进行性能测试。传统的测试装置一般是利用专用的示波器及信号发生器对电源供应器进行测试,并记录各项测试数据,但是,测试项目的切换需要人工控制,测试成本高,且在无人的情况下,测试设备只能暂停使用,测试设备资源的利用率低。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种自动测试内存条的电压的装置及方法。
一种内存条的电压测试装置,包括一电脑、一信号发生器、一示波器,所述示波器用于连接一内存条的一电压输入端及一电压输出端,所述电脑连接所述信号发生器及所述示波器,所述信号发生器用于连接所述电压输入端,所述电脑包括一控制模块、一调节模块及一显示模块,所述示波器包括一控制单元、一获取单元、一存储单元及一波形生成单元,所述信号发生器包括一控制子单元及一信号生成单元,所述控制模块用于发送设置的示波器初始设置参数给所述控制单元,发送设置的信号发生器初始设置参数给所述控制子单元,所述控制单元用于将所述示波器初始设置参数存储于所述存储单元,所述获取单元用于在所述信号生成单元输出一初始脉冲信号给所述电压输入端时获取所述电压输入端的初始信号电压值及所述电压输出端的初始测试参数,所述控制单元还用于将所述初始测试参数及所述初始信号电压值发送给所述调节模块,所述调节模块用于根据初始测试参数发送一当前电压偏移值及一当前电压波动范围值给所述控制单元,根据所述初始信号电压值发送一当前信号电压值给所述控制子单元,所述获取单元还用于在所述存储单元存储有所述当前电压偏移值及所述当前电压波动范围值后及在所述信号生成单元根据所述当前信号电压值生成一当前脉冲信号给所述电压输入端后,获取所述电压输出端及所述电压输入端的一段时间的电压值,所述波形生成单元用于根据所述电压值生产两个电压波形并传送所述两个电压波形及所述两个电压波形对应的波形电压值给所述控制模块,所述控制模块还用于显示所述波形电压值及所述两个电压波形于所述显示模块上。
一实施例中,所述电脑还包括一存储模块,所述存储模块用于存储所述当前电压偏移值、所述当前电压波动范围值及所述当前信号电压值。
一实施例中,所述示波器初始设置参数包括初始电压偏移量及初始电压波动范围值。
一实施例中,所述信号发生器初始设置参数包括脉冲频率、高电平电压、低电平电压及回转率。
一实施例中,所述初始测试参数包括一第二段时间内的电压波动的最大值与最小值。
一种内存条的电压测试方法,应用于一内存条的电压测试装置中,所述电压测试装置包括一电脑、一示波器及一信号发生器,所述示波器连接一内存条的电压输入端及电压输出端,所述信号发生器连接所述电压输入端;所述内存条的电压测试测试方法包括如下步骤:
所述电脑设置所述示波器所需的示波器初始设置参数及所述信号发生器所需的信号发生器初始设置参数;
所述信号发生器发生一初始脉冲信号给所述电压输入端;
所述电脑接收所述示波器发送的所述电压输出端的初始测试参数及所述电压输入端的初始信号电压值,根据所述初始测试参数发送一当前电压偏移值及一当前电压波动范围值给所述示波器,并根据所述初始信号电压值发送一当前信号电压值给所述信号发生器;
所述示波器获取所述内存条的电压输入端及电压输出端的一段时间内的电压值,将所述电压值生成两个电压波形,并将所述两个电压波形及所述两个电压波形对应的波形电压值发送给所述电脑;
所述电脑显示所述两个电压波形及所述波形电压值。
一实施例中,所述电脑存储所述当前电压偏移值、所述当前电压波动范围值及所述当前信号电压值。
一实施例中,所述初始设置参数包括初始电压偏移量及初始电压波动范围值。
一实施例中,所述信号发生器初始设置参数包括脉冲频率、高电平电压、低电平电压及回转率。
一实施例中,所述初始测试参数包括一第二段时间内的电压波动的最大值与最小值。
与现有技术相比,本发明内存条的电压测试装置及方法通过电脑自动调节所述示波器及所述信号发生器并检测内存条的电压输出,从而实现对内存条的电压自动测试。
附图说明
图1为本发明内存条的电压测试装置的一较佳实施方式中的示意图。
图2为本发明内存条的电压测试方法的一较佳实施方式中的流程图。
主要元件符号说明
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