[发明专利]产品尺寸检测治具在审
申请号: | 201310002899.6 | 申请日: | 2013-01-05 |
公开(公告)号: | CN103075984A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 韦盛城 | 申请(专利权)人: | 昆山上达精密配件有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/02 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人: | 盛建德 |
地址: | 215326 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 产品 尺寸 检测 | ||
技术领域
本发明涉及一种产品尺寸检测治具。
背景技术
目前,数控中心加工的铝合金产品,客户需要管控很多处重点尺寸,品检员单个检测尺寸需要花费很多的时间,效率较低。
发明内容
为了克服上述缺陷,本发明提供了一种产品尺寸检测治具,能够一次检测多处产品尺寸,效率大大提升。
本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种产品尺寸检测治具,包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面,该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔,对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针,所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。
本发明的有益效果是:通过在产品上设置一零平面,并在该零平面上对应各检测点分别设一检测用通孔,对应每一通孔内活动设置一PIN针,每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到零平面上表面之间的距离。这样,品检员再使用简易的高度规以零平面归零,平面内扫动所有的PIN针, 品检员根据高度规读数盘的表针即可以知道各检测点尺寸状况,非常方便,不需要对检测点一个一个的检测,大大提升了检测效率。
附图说明
图1为本发明结构示意图;
图2为本发明使用状态结构示意图。
结合附图,作以下说明:
1——零平面 2——检测用通孔
3——PIN针
具体实施方式
结合附图,对本发明作详细说明,但本发明的保护范围不限于下述实施例。
如图1所示,一种产品尺寸检测治具,包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面1,该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔2,对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针3,所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。使用时,如图2所示,先将零平面置于待检测产品上方的设定平面内,然后把每一PIN针分别插入其对应的检测用通孔内,品检员再使用简易的高度规以零平面归零,平面内扫动所有的PIN针,品检员根据高度规读数盘的表针即可以知道各检测点尺寸状况,非常方便,不需要对检测点一个一个的检测,大大提升了检测效率。
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