[发明专利]产品尺寸检测治具在审

专利信息
申请号: 201310002899.6 申请日: 2013-01-05
公开(公告)号: CN103075984A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 韦盛城 申请(专利权)人: 昆山上达精密配件有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B21/02
代理公司: 昆山四方专利事务所 32212 代理人: 盛建德
地址: 215326 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 产品 尺寸 检测
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种产品尺寸检测治具。 

背景技术

目前,数控中心加工的铝合金产品,客户需要管控很多处重点尺寸,品检员单个检测尺寸需要花费很多的时间,效率较低。 

发明内容

为了克服上述缺陷,本发明提供了一种产品尺寸检测治具,能够一次检测多处产品尺寸,效率大大提升。 

本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种产品尺寸检测治具,包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面,该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔,对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针,所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。 

本发明的有益效果是:通过在产品上设置一零平面,并在该零平面上对应各检测点分别设一检测用通孔,对应每一通孔内活动设置一PIN针,每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到零平面上表面之间的距离。这样,品检员再使用简易的高度规以零平面归零,平面内扫动所有的PIN针, 品检员根据高度规读数盘的表针即可以知道各检测点尺寸状况,非常方便,不需要对检测点一个一个的检测,大大提升了检测效率。 

附图说明

图1为本发明结构示意图; 

图2为本发明使用状态结构示意图。 

结合附图,作以下说明: 

1——零平面               2——检测用通孔 

3——PIN针 

具体实施方式

结合附图,对本发明作详细说明,但本发明的保护范围不限于下述实施例。 

如图1所示,一种产品尺寸检测治具,包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面1,该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔2,对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针3,所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。使用时,如图2所示,先将零平面置于待检测产品上方的设定平面内,然后把每一PIN针分别插入其对应的检测用通孔内,品检员再使用简易的高度规以零平面归零,平面内扫动所有的PIN针,品检员根据高度规读数盘的表针即可以知道各检测点尺寸状况,非常方便,不需要对检测点一个一个的检测,大大提升了检测效率。 

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