[发明专利]红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法

权利要求书

1.一种红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于，该方法的步骤如下：

步骤1，记录不同温度下黑体辐射源的探测原始数据图像                                                幅时，黑体每个像素点的幅图像的均值、整个焦平面响应均值、偏差极值和时域噪声均方根；

步骤2，计算不同温度下焦平面时域噪声均方根的均值，将时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合；

步骤3，计算不同温度下焦平面偏差极值均值，将偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，记为像元集合；

步骤4，利用采集不同温度下黑体获得的图像数据，计算两点两段非均匀性校正参数，记为像元集合；

步骤5，对两点两段非均匀性校正参数所组成的阵列进行镜像延拓，求其中值，其中严拓的与领域运算限制在5×5的滑动窗口中；

步骤6，利用滑动窗口机制，将两点两段非均匀性校正参数与窗口中值进行比较，记为像元集合；

步骤7：将获得最终的盲元检测结果取并集，得到最终的结果。                                  

2.如权利要求1所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述步骤1中低温时，

低温黑体下每个像素点的幅图像的均值为，，

整个焦平面响应均值为，，

偏差极值为，，

时域噪声均方根为，；

中温时，

中温黑体下的每个像素点的幅图像的均值为，，

整个焦平面响应均值为，，

偏差极值为，，

时域噪声均方根为，；

高温时，

高温黑体下的每个像素点的幅图像的均值为，，

整个焦平面响应均值为，，

偏差极值为，，

时域噪声均方根为，。

3.如权利要求1所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述步骤2中在

低温时，焦平面时域噪声均方根的均值，；

中温时，焦平面时域噪声均方根的均值，；

高温时，焦平面时域噪声均方根的均值， ；低温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合，；

中温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合，；

高温时，时域噪声均方根与焦平面时域噪声均方根的均值进行比较，记为像元集合

,。

4.如权利要求3所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述取0.3。

5.如权利要求1所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述步骤3中在

低温时，焦平面偏差极值的均值，；

中温时，焦平面偏差极值的均值，；

高温时，焦平面偏差极值的均值，；

低温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，像元集合,；

中温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，像元集合，；

高温时，偏差极值与焦平面偏差极值均值进行比较，像元集合，。

6.如权利要求5所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述取0.8。

7.如权利要求1所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：

所述步骤4中在低中高三个温度下黑体获得的图像数据，计算两点两段非均匀性校正参数为,,和，其计算方式为，

，

；

像元集合,，

,。

8.如权利要求1或5所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述步骤5中在滑动窗口中，对两点两段非均匀性校正参数,,,进行排序，并选出中值

，

，

，

。

9.如权利要求1所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述步骤6中两点两段非均匀性校正参数与窗口中值进行比较，其像元集合为,,,（取0.9, 取0.5），

，

，

，

。

10.如权利要求1所述的红外焦平面阵列的多判据盲元检测方法，其特征在于：所述步骤7中将获得最终的盲元检测结果取并集，其并集结果为。