[发明专利]一种反射器光度测试的光路系统无效

专利信息
申请号: 201310006829.8 申请日: 2013-01-08
公开(公告)号: CN103076159A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 孙体生;王文彩 申请(专利权)人: 孙体生;王文彩
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 夏连会
地址: 300042 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 反射 光度 测试 系统
【说明书】:

技术领域

    本发明属于测试光学器件的光路系统。具体的说,它涉及反射器光度测试的光路系统。

背景技术

    传统的反射器光度CIL值测试系统,按测试距离分国内外有两种,其一是从光源到被测反射器的测试距离为30.48m大型光路测试系统,其二是测试距离小于2m的小型光路测试系统,两者原理相同,见附图1,其中观察角α是被测反射器3基准中心C到受光器2的中心O2连线与基准中心C到光源1中心O1连线的夹角( α=                                                )。在不同角度测出的反射器光度,反映了反射器的不同质量指标,上述测试系统光路设置存在共同的缺陷在于:见附图2,(1)光源1与受光器2设置的位置均在同一端,显而易见,光源1与受光器2之间因受到最小孔径距r1+ r2的限制,在测试反射器时,只能测试α=0.2°~2°,而不能测试小观察角α=0°~0.2°的光度值及其分析;(2)严重影晌了对反射器在α=0°~2°全范围质量分析,尤其是对反射器模具光场分布特性的分析(观察角特性),以便提出确量的改进方案。(3)上述提到的小型测试系统,其光源1与受光器2之间的最小孔径距离r1+r2只有≤7mm,因太小至使光源1的光斑均匀性与受光器2的V(λ)特性误差都做的很大,直接影响到反射器的测试精度。

发明内容

本发明的目的在研制一种反射器光度测试的光路系统,试用于反射器全范围观察角α=0°~2°的光度测试,能解决(1)最小观察角α=0°~0.2°光度测试,不再受最小孔径距r1+r2

的限制;(2)在解决最小观察角α=0°~0.2°测试基础上,可以实现对反射器模具及其产品进行全范围观察角α=0°~2°光度性能的测试与分析,提出确量的质量改进方案;(3)在解决最小观察角α=0°~0.2°测试的基础上,对短距离的光度测试系统,其光源的光斑均匀性及受光器的V(λ)特性可大幅度的减小误差,以提高反射器测试精度;(4)在解决最小观察角α=0°~2°测试的基础上,可以大幅度缩短测试光路系统的测试距离。

本发明是通过下述步骤实现的,见附图3,它包括,光源、受光器、半透半反镜,其特

征在于:把光源与受光器分开设置,光源水平方向的光与半透半反镜的法线成45°入射,产生垂直向下的反射光,其反射光作为被测反射器的0°入射光,经被测反射器的反射产生反向180°垂直向上的逆反射光透射过半透半反镜,其逆反射光的光轴为0°线,也是观察角0°的基准线。

本发明的积极效果和优点:(1)解决了最小观察角α=0°~0.2°的光度测试,能完全实现反射器全范围观察角α=0°~2°测试;(2)实现了反射器模具及其产品进行全范围观察角α=0°~2°光度性能测试与分析,提出确量的质量改进方案;(3)对测试距离小于2m的光度测试系统,其光源光斑的均匀性及受光器的V(λ)特性可大幅度的减小误差,提高了反射器测试精度;(4)本发明的反射器光度测试光路系统的测试距离,可从传统距离大幅度的缩短,减小测试系统占用空间。

附图说明

附图1,是反射器光度CIL值测试原理图,其中:1为光源、2为受光器、3为被测反射器、

5为观察角α、6为测试距离D、7为受光器移动方向、8为圆心距R;

附图2,是传统的反射器光度CIL测系统的光路示意图,其中:1为光源、2为受光器、

3为被测反射器、5为观察角α、6为测试距离D、7为受光器移动方向、8为圆心距R;

附图3,是本发明反射器光度测试的光路系统示意图,其中:1为光源、2为受光器、3

为被测反射器、4为半透半反镜、5为观察角a、6为测试距离D、7为受光器移动方向、8为圆心距R。

具体实施方式

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