[发明专利]一种用于射频产品测试的射频开关矩阵

说明书

技术领域

    本发明涉及一种电气开关装置，尤其涉及一种用于射频产品测试的射频开关矩阵。

背景技术

在无线电通讯领域研发和生产过程中，通常需要对射频产品的进行射频性能测试。产品测试过程中，通常使用相同的测试仪器对不同输出功率的产品进行测试，如果没有对测试仪器进行保护，很容易出现因输出功率过高而导致测试仪器被烧毁的情况，提高产品生产成本。因此，目前在射频产品测试时，通常在被测产品与测试仪器之间设置衰减器，降低被测产品的输出功率以保护测试仪器不被烧毁。如果被测产品的输出功率较大，而衰减器的功率较小，经过衰减后也不能实现保护测试仪器的目的。因此为了达到测试仪器保护的目的，使用的衰减器的功率较大，因此成本较高。此外，如果被测产品的输出功率较低，经过衰减器衰减后会使得输出信号不稳定，进而造成测试不准确，即对于输出功率较低的被测产品不需要经过较大功率的衰减器进行衰减。因此使用一个较大功率的衰减器对所有被测产品进行衰减会造成测试不准确，成本较高。

发明内容

本发明解决的目的在于克服现有技术中存在的测试成本高、测试不准确的不足，提供一种用于射频产品测试的射频开关矩阵，通过本发明射频开关矩阵保护测试仪器，不但避免了测试仪器被烧毁的情况发生，而且还降低了测试成本，保障了测试的准确度。

为解决上述技术问题，本发明提供了以下技术方案：

一种用于射频产品测试的射频开关矩阵，包括至少一个一级衰减器，所述一级衰减器连接RD机电同轴开关组，所述RD机电同轴开关组连接至少一个二级衰减器，所述RD机电同轴开关组用于连通一级衰减器和/或二级衰减器；当被测射频产品的输出功率小于设定门限阈值时，所述RD机电同轴开关组连通一级衰减器或二级衰减器；当被测射频产品的输出功率大于或等于设定门限阈值时，所述RD机电同轴开关组同时连通一级衰减器和二级衰减器。本发明用于射频产品测试的射频开关矩阵，设置有一级衰减器、二级衰减器和RD机电同轴开关组，通过RD机电同轴开关组选择连通一级衰减器和/或二级衰减器，一级衰减器的一端与被测射频产品的输出端连接，可通过一级衰减器将被测射频产品的输出功率进行衰减，降低被测射频产品的输出功率，再通过RD机电同轴开关组选择是否需要启用二级衰减器，如果经过一级衰减后的输出功率仍然大于测试仪器能够承载的功率，则选择启用二级衰减器，否则不启用二级衰减器，RD机电同轴开关组直接连通测试仪器。通过一级衰减器和二级衰减器实现被测件输出功率的衰减，避免了使用一个大功率的衰减器，保护测试仪器不被烧毁的同时降低了衰减器的成本，通过RD机电同轴开关组选择启用一级衰减器或二级衰减器，使得不需要经过两级衰减的被测件的测试精度更高，保障了射频产品测试的准确性。设置一级衰减器和二级衰减器的目的是保护测试仪器不至于因为被测射频产品的输出功率过高而被烧毁。各种测试仪器能承载的功率不同，因此所述设定门限阈值可根据测试仪器所能承受的最大功率而调整。

根据本发明实施例，所述RD机电同轴开关组包括至少一个转换开关，所述一级衰减器与转换开关连接，所述一个转换开关与一个二级衰减器连接，所述转换开关用于选择连通二级衰减器。当需要使用二级衰减器时，通过转换开关连通二级衰减器，然后再连通测试仪器；如果不需要使用二级衰减器，则转换开关直接连通测试仪器。

根据本发明实施例，所述RD机电同轴开关组包括至少一个单刀双掷开关和至少一个单刀多掷开关，所述单刀双掷开关的一个接口直接与所述单刀多掷开关连接，单刀双掷开关的一个接口通过一级衰减器与单刀多掷开关连接，单刀多掷开关与二级衰减器连接。如果需要使用一级衰减器时，单刀双掷开关连通一级衰减器，一级衰减器与单刀多掷开关连接；如果不需要使用一级衰减器，则单刀双掷开关直接连通单刀多掷开关。