[发明专利]显卡测试系统及显卡测试方法

权利要求书

1.一种显卡测试系统，用于对同时具有外接显卡及集成显卡的主板进行显卡功能检测，并通过一与该集成显卡可插拔相连的第一显示器显示对该集成显卡进行功能检测的检测结果，该显卡测试系统运行于具有该主板的主机中，并在一处理器的控制下执行，其特征在于，该显卡测试系统包括：

第一检测模块，用于在检测状态时，测试该外接显卡的显示功能；

获取模块，用于获取该第一显示器与该集成显卡的连接状态，判断该第一显示器是否与该集成显卡电连接；

屏蔽模块，用于当该获取模块的侦测结果显示该第一显示器与该集成显卡电连接时，屏蔽该外接显卡的显示功能；

重启模块，用于重启具有该显卡测试装置的主机；及

第二检测模块，用于启动测试程序检测该集成显卡的显示功能。

2.如权利要求1所述的显卡测试系统，其特征在于，该获取模块包括任务管理子模块，该任务管理子模块用于侦测该集成显卡是否与该第一显示器电连接。

3.如权利要求1所述的显卡测试系统，其特征在于，该主机还包括侦测电路，该侦测电路用于侦测该集成显卡是否与该第一显示器电连接。

4.如权利要求3所述的显卡测试系统，其特征在于，该侦测电路包括第一电阻与第一电源，该主机还包括连接器，该连接器包括一侦测引脚，该侦测引脚经由该第一电阻连接该第一电源，该第一显示器包括与该连接器的该侦测引脚对应的被侦测引脚，该被侦测引脚加载一第一电压信号，并在该第一显示器通过该连接器连接该集成显卡时与该侦测引脚相连接，在该第一显示器未通过该连接器与该集成显卡相连接时与该被侦测引脚断开，从而改变加载在该侦测引脚上的电压的电压值大小；该侦测电路侦测该侦测引脚的电压值大小以生成相应的第二电压信号，并根据该第二电压信号判断该集成显卡是否通过该连接器与该第一显示器电连接。

5.如权利要求4所述的显卡测试系统，其特征在于，该侦测电路进一步包括输入输出芯片及BIOS芯片，该BIOS与该输入输出芯片相连用于控制该输入输出芯片侦测该侦测引脚的电压值的大小以生成相应的第二电压信号，该BIOS芯片根据该第二电压信号判断该集成显卡是否通过该连接器与该第一显示器电连接。

6.如权利要求4或5所述的显卡测试系统，其特征在于，当该第二电压信号的电压值与该第一电源的电压值相同时，该第二电压信号为一第一电平以表示该第一显示器未通过该连接器与该集成显卡电连接，当该第二电压信号的电压值与该第一电源的电压值不同时，该第二电压信号为一不同与该第一电平的第二电平以表征该第一显示器通过该连接器与该集成显卡电连接。

7.如权利要求6所述的显卡测试系统，其特征在于，该第一电压信号为一接地信号。

8.如权利要求6所述的显卡测试系统，其特征在于，该第一电压信号为提供给该第一显示器的电源信号。

9.一种显卡测试方法，用于对同时具有外接显卡及集成显卡的主板进行显卡功能检测，并通过一与该集成显卡可插拔相连的第一显示器显示对该集成显卡进行功能检测的检测结果，该显卡测试系统运行于具有该主板的主机中，并在一处理器的控制下执行，其特征在于，该显卡测试方法包括：

第一检测步骤，进入显卡检测状态时，检测该外接显卡的显示功能；

获取步骤，获取该第一显示器与该集成显卡的连接状态，判断该第一显示器是否与该集成显卡电连接；

屏蔽步骤，当该获取模块的侦测结果显示该第一显示器与该集成显卡电连接时，屏蔽该外接显卡的显示功能；

重启步骤，重启具有该显卡测试装置的主机；及

第二检测步骤，启动测试程序检测该集成显卡的显示功能。