[发明专利]一种判别低丰度有效烃源岩的方法有效
申请号: | 201310008706.8 | 申请日: | 2013-01-10 |
公开(公告)号: | CN103926388A | 公开(公告)日: | 2014-07-16 |
发明(设计)人: | 庞雄奇;霍志鹏;姜福杰;范泊江;沈卫兵;李素梅 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | G01N33/24 | 分类号: | G01N33/24 |
代理公司: | 北京瑞恒信达知识产权代理事务所(普通合伙) 11382 | 代理人: | 曹津燕;张伟 |
地址: | 102249*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 判别 低丰度 有效 烃源岩 方法 | ||
1.一种判别低丰度有效烃源岩的方法,所述方法包括以下步骤:
(1)通过岩石热解实验和镜质体反射率分析实验,获得某一区域多个地点、多个单井同一岩性烃源岩热解参数和反映烃源岩成熟度的镜质体反射率Ro参数;
(2)筛选出有机碳含量TOC≤0.5%对应的烃源岩热解参数和Ro,根据筛选的热解参数计算每个深度或Ro对应的生烃潜力指数;
(3)绘制相同间隔、不同范围TOC烃源岩生烃潜力指数随深度或Ro演化剖面;
(4)在多个连续不同范围TOC烃源岩生烃潜力指数演化剖面中寻找首次出现排烃门限的演化剖面,该演化剖面对应的TOC值或TOC范围即为低丰度有效烃源岩的TOC下限值,此TOC值以上的烃源岩为低丰度有效烃源岩。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个地点、多个单井在研究区平面上均匀分布。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述烃源岩参数和Ro在纵向上从深到浅均有分布。
4.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(1)和步骤(2)中烃源岩参数主要包括有机碳含量TOC、生烃潜力S1+S2、深度H及镜质体反射率Ro,烃源岩的生烃潜力指数为(S1+S2)/TOC。
5.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(3)中以相同间隔,把TOC分为不同范围值,分别绘制不同范围TOC烃源岩生烃潜力指数随深度或Ro的演化剖面。
6.根据权利要求5所述的方法,其中所述相同间隔以0.05%或0.1%为间隔。
7.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(4)中将生烃潜力指数演化剖面按TOC从小到大排序,勾绘生烃潜力指数的包络线,确定每个生烃潜力指数演化剖面是否出现排烃门限,从连续剖面中找出首次出现明显排烃门限的演化剖面,通过该剖面对应TOC值或范围就可以判别低丰度有效烃源岩。
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