[发明专利]具有干燥环境的测试机台

说明书

技术领域

本发明涉及一种具有干燥环境的测试机台，尤其是涉及一种可进行温度调控处理，并具有干燥环境的测试机台。

背景技术

随着科技的发展与时代的进步，电子装置的快速发展使得人们生活水平普遍提高，其中，现有的电子装置内部的零组件大量使用到集成电路（Integrated Circuit;IC）的元件，更甚者，现有的一般油耗车或电动车等其余与人们衣食住行育乐相关的装置，都大量使用到集成电路元件。由于集成电路元件在电子装置中扮演了相当重要的角色，因此其可靠度也成为影响电子装置是否耐用的重要指针。

举例而言，在寒带气候的国家中，其不管是无线通信装置（如手机或平板计算机等）或上述的车辆均需在相当低温的环境下可进行操作或运作，使得集成电路元件在低温下仍可正常运作成为相当重要的课题，因此以低温状态测试集成电路元件成为近年来必备的测试条件。其中，现有的低温测试中，其中一种方法利用低温氮气充填测试机台内部，营造低温环境，进而让集成电路元件在低温状态下进行测试。

然而，现有的测试机台进行低温测试时，需先等待其环境到达所设定的低温，再通过环境空气将待测物冷却至测试温度时才可进行测试，因而需耗费相当的等待作业时间，此外，由于厂房内的空气露点温度会高于测试温度，因此机台必须充分隔离并保持紧闭状态，若测试过程需要进行调整或维修，或者测试结束时，皆必须等待机台温度回升至常温以上，才能进行后续作业，不然会造成低温测试完的集成电路元件或者机台内部低温零件结露甚至结冰，作业上有其不方便性，因此现有的测试机台仍有改善空间。

发明内容

本发明所欲解决的技术问题与目的：

有鉴于在现有技术中，现有的测试机台普遍存在有在进行低温测试时需等待机台内部环境到达所设定的低温，并确保机台必须充分隔离并保持紧闭状态，不然会造成低温测试完的集成电路元件或者机台内部低温零件结露甚至结冰，作业上有其不方便性。

缘此，本发明的主要目的提供一种具有干燥环境的测试机台，其可进行温度调控处理，并且具有干燥的测试环境，借以省去等待低温作业的时间以及防止集成电路元件结露甚至结冰。

本发明解决问题的技术手段：

本发明为解决现有技术的问题，所采用的必要技术手段提供一种具有干燥环境的测试机台，用以测试多个待测物，测试机台包含一测试站、一缓冲承载装置、一传输承载装置、一搬运机构以及一干燥气体导流机构。测试站用以对该些待测物进行一测试程序，缓冲承载装置邻近设置于测试站的一侧，缓冲承载装置用以容纳该些待测物，以对该些待测物进行一温度调控处理。传输承载装置邻近设置于测试站的另一侧，可沿一传送方向往复移动，传输承载装置用以传送该些待测物进出测试站，并可对该些待测物进行一回温处理。搬运机构用以将该些待测物搬运至缓冲承载装置、测试站及传输承载装置，干燥气体导流机构导引干燥气体包围测试站、缓冲承载装置、传输承载装置及搬运机构，用以产生干燥环境防止结露。

较佳地，上述的测试机台中，搬运机构包含一第一搬运臂以及一第二搬运臂，第一搬运臂用以将该些待测物自传输承载装置搬运至缓冲承载装置以进行温度调控处理，自缓冲承载装置搬运至测试站以进行测试程序，以及自测试站搬运至传输承载装置以进行回温处理；第二搬运臂用以将该些待测物自传输承载装置搬运至缓冲承载装置以进行温度调控处理，自缓冲承载装置搬运至测试站以进行测试程序，以及自测试站搬运至传输承载装置以进行回温处理。此外，第一搬运臂自传输承载装置移动至缓冲承载装置时，第二搬运臂在测试站进行该测试程序或等待，当第一搬运臂自缓冲承载装置移动至测试站时，第二搬运臂自测试站移动至传输承载装置。

较佳地，上述的测试机台中，传输承载装置包含一定位机构、一输入容纳部以及一输出容纳部，定位机构用以对待测物进行一定位调整，而搬运机构将该些待测物自输入容纳部搬运至缓冲承载装置以进行温度调控处理，以及自测试站搬运至输出容纳部以进行回温处理。另外，输出容纳部设有一加热装置，加热装置用以进行上述的回温处理，此外，缓冲承载装置包含多个容纳部，缓冲承载装置可沿传送方向往复移动，用以提供搬运机构将该些待测物分别搬运至多个容纳部，而缓冲承载装置设有一温度控制器，用以进行上述的温度调控处理。

本发明对照先前技术的效果：