[发明专利]用于根据流量计参数的偏差进行诊断的方法

说明书

技术领域

本发明涉及流量计，并且更具体地涉及用于利用流量计参数的偏差进行诊断的方法。

背景技术

使用科里奥利效应的质量流量计来测量用于流过流量计内部导管的材料的质量流量和其他信息是公知的。全部授予J.E.Smith等人的美国专利4109524、美国专利4491025和Re.31450中公开了示范性的科里奥利流量计。这些流量计具有直线或弯曲结构的一条或多条导管。科里奥利质量流量计中的每一种导管结构都有一套固有振动模式，可以是简单的弯曲、扭转或耦合类型。每一条导管都可以被驱动为在这些固有模式中的一种模式下以谐振振荡。在流量计的入口侧从相连的管路流入流量计内的材料被引导通过一条或多条导管，然后通过流量计的出口侧离开流量计。振动的材料填充系统的固有振动模式部分地由导管和导管内流动的材料的总质量确定。

在没有流量通过流量计时，沿导管的所有位置都会由于施加的驱动器作用力具有相同相位或者能够被校正的初始小固定相位偏差而振动。在材料开始流过流量计时，科里奥利作用力导致沿导管的每个位置都具有不同的相位。例如，在流量计入口端的相位使驱动器滞后，而在出口的相位则使驱动器超前。一条或多条导管上的敏感元件传感器生成表示一条或多条导管动作的正弦信号。对来自敏感元件传感器的信号输出进行处理以确定敏感元件传感器之间的相位差。两个或多个敏感元件传感器之间的相位差与流过一条或多条导管的材料的质量流量成比例。

科里奥利质量流量计已经在广泛的工业应用中获得了极大的成功。但是，科里奥利流量计与很多其他的流量计一样，都会遇到过程流体遗留下的沉积物累积的问题。这种累积通常在本领域内被称为“涂覆层”。根据过程流体的特性，流体涂覆层可能会也可能不会影响到流量计的性能和精度。尽管涂覆层通常既不会影响流量计的稳定性也不会造成流量的测量误差，但是它会影响流量计特性的其他方面。例如，涂覆层可能具有与过程流体不同的密度。这可能会反过来影响到从流量计中获得的密度读数。对于某些过程流体，涂覆层可能会在流量计内累积到一定的厚度并随后崩溃成为小碎片。这些小碎片可能会影响连接至流量计的其他处理部件。在极端情况下，涂覆层可能会累计到足够多以至于流量计被阻塞而需要彻底停止工作或者在某些情况下需要完全更换流量计。

涂覆层、阻塞、不稳定的过程流体组分、过程流体的温度改变等因素可能会导致其他问题。例如，在油漆工业中，同一流量计可以被用于多种油漆颜色。因此，即使是涂覆层不会导致流量计读数误差，涂覆层也会对最终产品造成负面影响。

由于上述问题以及由涂覆层造成的其他问题，因此希望在有流量计涂覆层存在时进行诊断。现有技术中检测流量计涂覆层的诊断方法有很多问题。首先，很多现有技术中的方法局限于流量管有效部分也就是振动部分内的涂覆层检测。现有技术中的其他限制源于涂覆层密度基本上类似于过程流体的情况。在此情况下，基于密度的涂覆层检测无法进行。因此，本领域中对于克服了上述限制的涂覆层检测方法存在需求。而且，在已知过程流体会涂覆流量计的应用中，希望在清洁流量计期间能够检测到流量计何时被完全去除了涂覆层。

发明内容

根据本发明的一种应用，一种用于检测流量计参数的偏差的方法，包括以下步骤：

测量流量计的至少一部分上的压差；

将测量的压差与基于测量流量的预期压差相比较；以及

如果测量的压差和预期压差之间的差值超过阈值限制，则检测到流量计参数的偏差。

优选地，所述方法进一步包括测量整个流量计上的压差的步骤。

优选地，所述预期压差基于已知的固定流体粘度。

优选地，所述预期压差通过预先准备好的压差-流量曲线获得。

优选地，所述方法进一步包括将预期压差存储在计量电子设备内的步骤。

优选地，所述阈值限制包括预定值。

优选地，所述流量计包括科里奥利流量计。

优选地，所述流量计参数的偏差指示流量计内的涂覆层。

根据本发明的另一种应用，一种用于检测流量计参数的偏差的方法，包括以下步骤：

测量流量计上的压差；

基于所述压差计算预期流体流量；以及

将测量的流体流量与计算的流体流量相比较，如果测量的流体流量和计算的流体流量之间的差值超过阈值限制，则检测到流量计参数的偏差。

优选地，计算预期流体流量的步骤包括将流量计的定性为孔板流量计的步骤。

优选地，所述方法进一步包括确定流量计流量系数的步骤。