[发明专利]一种爽身粉及其原料滑石粉中矿物成分检测方法无效
申请号: | 201310010688.7 | 申请日: | 2013-01-12 |
公开(公告)号: | CN103323469A | 公开(公告)日: | 2013-09-25 |
发明(设计)人: | 赵景红 | 申请(专利权)人: | 赵景红 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 116023 辽宁省大*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 爽身粉 及其 原料 滑石粉 矿物 成分 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及分析化学、化妆品安全领域,具体的说,是一种爽身粉及其原料滑石粉中矿物成分检测方法,尤其涉及以滑石粉为主要成分的爽身粉及其原料滑石粉中的矿物成分鉴别方法。
背景技术
2009年婴幼儿爽身粉中检测到1级致癌物质-石棉,引起国内外对石棉的再一次关注。婴幼儿爽身粉中的石棉来源于爽身粉的主要成分-滑石粉,滑石粉是由滑石矿物经采矿、选矿、破碎及研磨后制的粉末,在滑石矿物中常伴生有石棉及其它矿物,如绿泥石、菱镁矿、白云石及石英等。根据滑石矿的产地及矿物成因不同,使得某些滑石粉中含有不同的非滑石类矿物粉末,婴幼儿爽身粉中微量的石棉就是由于采用滑石粉作为主成分而引入的。
爽身粉的主要原料是天然滑石粉,滑石矿通常与其他矿物伴生,如绿泥石、菱镁矿、透闪石、白云石、菱铁矿、石英、黄铁矿等,部分矿源还伴生有石棉,后者对人体健康危害很大,已被医学界公认为强致癌物质。由于目前还没有对爽身粉及其原料滑石粉中的矿物成分的检测方法,采用低品质的滑石粉作为爽身粉的主要原料会使爽身粉的安全性难以保障。
鉴于上述情况,本发明旨在利用粉末X射线衍射技术,建立一种快速、灵敏的爽身粉及其原料滑石粉中矿物成分检测方法,以加强对爽身粉及其原料滑石粉的安全监测,更好的保护人类健康。
发明内容
本发明的目的是采用X 射线衍射粉末分析法对婴幼儿爽身粉及其原料滑石中的各种成分进行检测及衍射谱解析,对国内外婴幼儿爽身粉的质量进行研究,确定各类爽身粉的主要成分,以检测滑石粉原料的品质。
本发明为实现上述目的所采用的技术方案是:一种爽身粉及其原料滑石粉中矿物成分检测方法,包括以下步骤:
1、分析试样制备:将约20g的爽身粉或滑石粉原料样品放入玛瑙研钵中研磨至全部通过200目以上的标准筛,制成分析试样。
2、粉末X射线衍射用样片制备:将少量分析试样均匀分布于粉末X射线衍射用样品架中,用玻璃片压制成平滑的试料片用于X射线衍射仪的测定。
3、 粉末X射线衍射定性分析:将制好的试料片放入X射线衍射仪中,按照X射线衍射仪器测定条件对样片进行X射线衍射分析,得到分析试样的衍射数据和谱图,将所得分析试样的图谱与相应标准图谱对照,对爽身粉及其滑石粉原料中的矿物成分进行检测。
作为优选,在步骤1中所述的标准筛的目数为200~325目,孔径约为75~45μm。
作为优选,在步骤2中所述的粉末X射线衍射用样品架,示样品量的多少选用玻璃样品架、金属铝样品架。
作为优选,在步骤3中所述的X射线衍射分析条件为铜(Cu)靶,固体探测器,管压40 kV,管流46mA,发散狭缝1 mm,散射狭缝1 mm,接受狭缝0.1 mm,连续扫描范围5°~60°,采样步宽0.02°/步,扫描速度4°~10°/min。
作为优选,在步骤3中所述的爽身粉及其原料滑石粉中的矿物成分检测结果通常为以滑石为主,含绿泥石、菱镁石、方解石、白云石、石英、石棉等常与滑石伴生的矿物杂项;亦可以是与滑石粉外观近似的可替代滑石粉的矿物粉末,如绿泥石粉;或是爽身粉中人为添加的氧化锌等矿物粉末。
[0013] 由于采用上述技术方案,本发明的有益效果在于:
1、建立了爽身粉及其原料滑石粉中矿物成分检测方法,实现了对爽身粉及其原料滑石粉中矿物成分的检测,避免使用劣质滑石粉或绿泥石粉等其它矿物粉末作为爽身粉原料而引入石棉等有害物质。
2、本发明可应用于爽身粉及其原料滑石粉的品质检验中,对确保爽身粉及滑石粉的进出口贸易,保证化妆品及滑石粉原料的品质,保障人类特别是婴幼儿身体健康都具有十分重要的意义。
附图说明
图1-10为7个爽身粉样品与3个滑石粉原料样品的X 射线衍射谱图,扫描范围为2θ:5°~60°,扫描速度为4°/ min。
其中:图1为1#爽身粉样品的X射线衍射谱图。
图2为2#爽身粉样品的X射线衍射谱图。
图3为3#爽身粉样品的X射线衍射谱图。
图4为4#爽身粉样品的X射线衍射谱图。
图5为5#爽身粉样品的X射线衍射谱图。
图6为6#爽身粉样品的X射线衍射谱图。
图7为7#爽身粉样品的X射线衍射谱图。
图8为1#滑石粉原料样品的X射线衍射谱图。
图9为2#滑石粉原料样品的X射线衍射谱图。
图10为3#滑石粉原料样品的X射线衍射谱图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赵景红,未经赵景红许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310010688.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。