[发明专利]一种用于在单纳米线上制备电极的方法有效
申请号: | 201310011661.X | 申请日: | 2013-01-11 |
公开(公告)号: | CN103077888A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 杨树明;李磊;韩枫;胡庆杰;蒋庄德 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/44;B82Y10/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 汪人和 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 纳米 线上 制备 电极 方法 | ||
1.一种用于在单纳米线上制备电极的方法,其特征在于:该制备电极的方法包括以下步骤:将纳米线分散在绝缘基底上,然后在绝缘基底上覆盖一层纳米级的Al薄膜作为导电层和纳米线的覆盖层,然后在Al薄膜上旋涂电子束光刻胶,根据绝缘基底上纳米线的位置对旋涂的电子束光刻胶进行光刻显影、坚膜得到电极的光刻胶图案,然后湿法刻蚀Al薄膜形成底切窗口,然后沉积金属并对沉积在电子束光刻胶上的金属进行剥离,然后腐蚀去除Al薄膜。
2.根据权利要求1所述一种用于在单纳米线上制备电极的方法,其特征在于:将纳米线超声分散在溶剂中得悬浊液,将悬浊液滴加至绝缘基底上,然后将绝缘基底上的溶剂通过烘烤蒸干,使纳米线分散在绝缘基底上。
3.根据权利要求1所述一种用于在单纳米线上制备电极的方法,其特征在于:所述Al薄膜采用溅射沉积获得,厚度为150-500纳米。
4.根据权利要求1所述一种用于在单纳米线上制备电极的方法,其特征在于:所述坚膜在热板上进行,热板温度为100-110℃,坚膜时间为10-25分钟。
5.根据权利要求1所述一种用于在单纳米线上制备电极的方法,其特征在于:所述湿法刻蚀Al薄膜使用的刻蚀液为0.05-0.3mol/L的四甲基氢氧化铵水溶液,刻蚀时间为60-300秒,刻蚀温度为17-25℃。
6.根据权利要求1所述一种用于在单纳米线上制备电极的方法,其特征在于:所述沉积金属的厚度不超过180纳米。
7.根据权利要求1所述一种用于在单纳米线上制备电极的方法,其特征在于:所述制备电极的方法具体包括以下步骤:
1)将CdS纳米线超声分散在溶剂中得纳米线的悬浊液;
2)将绝缘基底清洗干净后加热到90℃,然后在绝缘基底上滴几滴悬浊液,溶剂蒸发除去后CdS纳米线分散在基底上;
3)在分散有CdS纳米线的绝缘基底上溅射沉积200nm厚的Al薄膜;
4)在Al薄膜上旋涂500nm厚的电子束光刻胶;
5)经过步骤4)后,在电子束曝光机下对覆盖在Al薄膜下的CdS纳米线进行定位,然后进行光刻显影、坚膜;
6)经过步骤5)后,使用0.1mol/L的四甲基氢氧化铵水溶液刻蚀Al薄膜150秒,刻蚀温度为23℃,然后用去离子水冲洗,冲洗后使用氮气吹干,吹干后在热板上于100℃烘烤10分钟;
7)经过步骤6)后,依次溅射沉积厚度为25nm的Ti以及厚度为150nm的Pd得电极金属薄膜,然后在丙酮中剥离沉积在电子束光刻胶上的电极金属薄膜,然后使用所述四甲基氢氧化铵水溶液刻蚀去除绝缘基底上剩余的Al薄膜,得到制备于CdS纳米线上的电极。
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