[发明专利]低相位噪声压控振荡器有效

专利信息
申请号: 201310015875.4 申请日: 2013-01-16
公开(公告)号: CN103095217A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 樊祥宁;李斌;王加锋;施晓阳;王志功 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H03B5/32 分类号: H03B5/32;H03B5/04
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 汤志武
地址: 210096*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 相位 噪声 压控振荡器
【说明书】:

技术领域

发明属于射频无线接收机集成电路技术领域,具体涉及一种低相位噪声压控振荡器。

背景技术

压控振荡器是通信系统中用于产生本振信号的模块,其性能直接决定通信系统的性能。相位噪声作为压控振荡器的一个主要性能指标,影响着接收机的灵敏度和发射机的临近信道干扰。因此设计一个低相位噪声的压控振荡器对现代无线通信系统显的尤为重要。

压控振荡器的实现形式主要有环形振荡器和电感电容压控振荡器。环形振荡器由于相位噪声性能较差,主要被用于产生片上时钟信号。而电感电容压控振荡器由于其良好的相位噪声性能而广泛应用于无线通信领域。

根据D.B.Lesson相位噪声模型公式,电感电容压控振荡器的相位噪声L(Δf)可表示为:

L(Δf)FkBTQ2RPVp2(f0Δf)2---(1)]]>

其中Δf为偏移频率,fo为振荡频率,F为噪声指数,k为玻尔兹曼常数,T为绝对温度值,Q为谐振腔品质因数,Vp为谐振腔振荡信号幅度,Rp为谐振腔等效并联电阻。

从式(1)可知,为优化相位噪声性能,可通过提高谐振腔的品质因数Q和提高振荡信号的幅度Vp来实现。由于片上电容的品质因数远远大于片上电感的品质因数,谐振腔的品质因数主要由片上电感决定。然而,趋肤效应及衬底的高损耗等因素的影响,片上电感可获得的品质因数有限。另一方面,随着CMOS工艺特征尺寸的减小,电源电压相应降低,压控振荡器输出信号振幅也随之减小,这使得低相位噪声的优化设计变的十分困难。

发明内容

本发明的目的在于提供一种低相位噪声压控振荡器,采取的技术方案如下:

一种低相位噪声压控振荡器,其特征是:包括负阻电路模块、差分耦合电感电容谐振腔,其中:

负阻电路模块包括PMOS管Mp、NMOS管Mn、两个电感值相等的源级反馈电感Ls1和Ls2;电源VDD串联源级反馈电感Ls1后连接PMOS管Mp的源极,NMOS管Mn的源极串联源级反馈电感Ls2后接地,PMOS管Mp的栅极连接NMOS管Mn的漏极作为输出端Vp,NMOS管Mn的栅极连接PMOS管Mp的漏极作为输出端Vn

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