[发明专利]X射线CT装置

说明书

相关申请

本申请将日本专利申请2012-005849（申请日：2012年1月16日）作为基础从该申请享有优先的利益。本申请通过参照该申请从而包含该申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及X射线CT装置。

背景技术

X射线CT装置一边使隔着顶板上的被检查体而对置配置的X射线管和X射线检测器绕被检查体旋转，一边进行X射线拍摄。

利用X射线拍摄，收集被检查体的数据（CT值），基于CT值诊断被检查体的性状。

CT值由“质量减弱系数”*“密度”表示。“质量减弱系数”是物质特有的值。因此，即使因物质的密度状态而使物质不同也不会在CT值存在差异，有时从CT值难以进行物质的鉴别。

作为解决这样的现象的方案，有利用不同的管电压进行被检查体的数据收集的双能量（dual energy）扫描法。有时将所收集的数据称为投影数据、收集数据、或原始数据。

在该方法中，有2管球方式、光子计数（photon counting）方式、高速kV转换方式等。

作为高速kV转换方式的一个例子，有一边按每一视图将管电压切换为高电压（140kV）和低电压（80kV），一边分别收集数据的方式。有时将管电压的切换周期称为转换周期。

由于每一旋转的视图（view）数和图像的分辨率成比例，所以为了取得高画质的断层像，在旋转速度快的情况下，需要与其相应地使转换周期变短。

然而，由于在高速kV转换方式中，对转换周期有限制，所以在旋转速度快的情况下，无法与其相应地使转换周期变短，结果是，每一旋转的视图数不足，不能得到足够的分辨率，有无法取得高画质的断层像的问题。

发明内容

实施方式解决了上述的问题，其目的在于，提供一种即使在旋转速度快的情况下，也能通过得到足够的分辨率，从而取得高画质的断层像的X射线CT装置。

实施方式的X射线CT装置具有X射线管、管电压产生单元、X射线检测器、数据收集单元和图像处理单元。管电压产生单元对X射线管施加管电压。管电压控制单元以使管电压呈周期性变化的方式对管电压产生单元进行控制。X射线检测器隔着被检查体与X射线管相对应地配置，对透射了被检查体的X射线进行检测。数据收集单元从由X射线检测器检测的数据中与管电压的变化同步地在1个周期内收集对X射线管施加高电压时的第一采样数据，并在从该收集起经过规定期间后收集对X射线管施加低电压时的第二采样数据。图像处理单元基于收集的第一采样数据以及第二采样数据来制作图像。

因此，根据实施方式的X射线CT装置，即使在旋转速度快的情况下，也能通过得到足够的分辨率，从而取得高画质的断层像。

附图说明

图1是X射线CT装置的结构框图。

图2是分别表示在比较例中管电压的变化为矩形波的例子、数据收集的例子的图。

图3是分别表示在第一实施方式中管电压的变化为矩形波的例子、数据收集的例子A、图像重建的例子B～D、分解（decomposition）处理的例子E的图。

图4是分别表示在比较例中管电压的变化为三角波的例子、数据收集的例子的图。

图5是分别表示在第二实施方式中管电压的变化为三角波的例子、数据收集的例子A、图像重建的例子B～D、分解处理的例子E的图。

图6是连续收集高电压和低电压两数据时的图。

图7是隔开时间地收集高电压和低电压两数据时的图。

图8是分别表示在比较例中管电压的变化为三角波的其他例子、数据收集的例子的图。

图9是分别表示在第三实施方式中管电压的变化为三角波的其他例子、数据收集的例子A、图像重建的例子B～D、分解处理的例子E的图。

图10是表示进行过采样并进行打包的例子的图。

图11是表示进行过采样并进行打包的其他例子的图。

图12是分别表示在第四实施方式中管电压的变化为三角波的例子、保存过采样的全部数据的例子A、打包的比较例B、打包的例子C的图。

具体实施方式

〔第一实施方式〕

参照图1对该X射线CT装置的第一实施方式的基本结构进行说明。

如图1所示那样，X射线CT装置包含扫描架（gantry）100。扫描架100具有：X射线管101、多列型或者二维排列型的X射线检测器103和数据收集系统104。