[发明专利]规避定频干扰源的取样方法

权利要求书

1.一种规避定频干扰源的取样方法，其特征在于，所述取样方法包含以下步骤：

取得所述定频干扰源的频率F；

求得一取样频率fs，其中fs=F/n，且n为正整数；以及

电子装置的一取样电路以所述取样频率fs进行取样。

2.根据权利要求1所述的取样方法，其特征在于，求得所述取样频率fs的步骤更包含：

所述取样频率fs落在所述取样电路的取样频段内。

3.根据权利要求2所述的取样方法，其特征在于，在求得所述取样频率fs的步骤中，若符合所述取样频段的取样频率fs为多个，则以具最小n值的取样频率fs进行取样。

4.根据权利要求1所述的取样方法，其特征在于，在所述取样电路以所述取样频率fs进行取样的步骤后，另包含以下步骤：

对所述取样电路的输出信号，进行一低通滤波处理。

5.根据权利要求1所述的取样方法，其特征在于，所述取样电路以所述取样频率fs进行取样的步骤包含：

根据电子装置的一系统时脉产生器提供的系统时脉，产生具所述取样频率fs的时脉，以提供所述取样电路进行取样。

6.根据权利要求5所述的取样方法，其特征在于，所述时脉产生器为一振荡器以及一共振器的其中之一。

7.根据权利要求5所述的取样方法，其特征在于，所述时脉产生器为处理器内建的RC起振电路。