[发明专利]用于诊断电容传感器的装置及方法

权利要求书

1.一种用于诊断电容传感器的状态的装置，所述装置包括：

控制单元，其被可操作地耦合到表现漂移状态的去耦设备并耦合到所述电容传感器，所述控制单元被配置来：

确定所述电容传感器的阻抗；

至少基于所述阻抗，确定所述电容传感器的特性；

基于所述电容传感器的所述特性，确定所述去耦设备的特性；及

基于所述去耦设备的所述特性，提供估计电容，所述估计电容指示所述电容传感器的状态。

2.如权利要求1所述的装置，其中所述电容传感器的所述特性与所述电容传感器的电阻相对应。

3.如权利要求2所述的装置，其中所述电容传感器的所述电阻与所述电容传感器的最小电阻值相对应。

4.如权利要求1所述的装置，其中所述去耦设备的所述特性与所述去耦设备的电容相对应。

5.如权利要求1所述的装置，其中所述电容传感器的所述特性和所述去耦设备的所述特性补偿表现在所述去耦设备的漂移。

6.如权利要求1所述的装置，其中所述控制单元还被配置来比较所述估计电容和预定的电容值，以诊断所述电容传感器。

7.如权利要求6所述的装置，其中所述控制单元还被配置为，如果所述估计电容超出所述预定的电容值，则确定所述电容传感器表现出故障状态。

8.一种用来诊断电容传感器的状态的方法，所述方法包括：

确定所述电容传感器的阻抗；

至少基于所述阻抗，确定所述电容传感器的特性；

基于所述电容传感器的所述特性，确定表现出漂移状态的去耦设备的特性；和

基于所述去耦设备的所述特性，提供估计电容，所述估计电容指示所述电容传感器的状态。

9.如权利要求8所述的方法，其中所述电容传感器的所述特性与所述电容传感器的电阻相对应。

10.如权利要求9所述的方法，其中所述电容传感器的所述电阻与所述电容传感器的最小电阻值相对应。

11.如权利要求8所述的方法，其中所述去耦设备的所述特性与所述去耦设备的电容相对应。

12.如权利要求8所述的方法，还包括使用所述电容传感器的所述特性和所述去耦设备的所述特性来补偿表现在所述去耦设备的漂移。

13.如权利要求8所述的方法，还包括比较所述估计电容和预定的电容值，以诊断所述电容传感器。

14.如权利要求13所述的方法，还包括如果所述估计电容超出所述预定的电容值，则确定所述电容传感器表现出故障状态。

15.一种用于诊断电容传感器的状态的装置，所述装置包括：

控制单元，其被可操作地耦合到去耦设备和所述电容传感器，所述去耦设备表现出漂移状态并被配置成防止能量转移到所述电容传感器，所述控制单元被配置来：

确定所述电容传感器的阻抗；

至少基于所述阻抗，确定所述电容传感器的特性；

基于所述电容传感器的所述特性，确定所述去耦设备的特性；及

基于所述去耦设备的所述特性，提供估计电容，所述估计电容指示所述电容传感器的状态。

16.如权利要求15所述的装置，其中所述电容传感器的所述特性与所述电容传感器的电阻相对应。

17.如权利要求16所述的装置，其中所述电容传感器的所述电阻与所述电容传感器的最小电阻值相对应。

18.如权利要求15所述的装置，其中所述去耦设备的所述特性与所述去耦设备的电容相对应。

19.如权利要求15所述的装置，其中所述电容传感器的所述特性和所述去耦设备的所述特性补偿表现在所述去耦设备的漂移。

20.如权利要求15所述的装置，其中所述控制单元还被配置成比较所述估计电容和预定的电容值，以诊断所述电容传感器。