[发明专利]半导体存储器件及其测试方法

权利要求书

1.一种半导体存储器件，包括：

写入控制器，所述写入控制器被配置成：当在测试模式期间执行写入操作时，将第一输入数据从第一焊盘传送到第一全局I/O线和第二全局I/O线；

第一写入驱动器，所述第一写入驱动器被配置成：当在所述测试模式期间执行所述写入操作时，将所述第一输入数据从所述第一全局I/O线传送到第一单元块，以使所述第一输入数据储存在所述第一单元块中；以及

第一I/O线驱动器，所述第一I/O线驱动器被配置成：当在所述测试模式期间执行读取操作时，响应于从所述第一单元块接收第一输出数据而将信号供应到所述第一全局I/O线和第一测试I/O线。

2.如权利要求1所述的半导体存储器件，其中，当在所述测试模式期间执行所述读取操作时，所述第一全局I/O线上的信号通过所述第一焊盘来供应。

3.如权利要求1所述的半导体存储器件，还包括驱动控制信号发生器，所述驱动控制信号发生器被配置成：当在所述测试模式期间执行所述写入操作或所述读取操作时，将第一驱动控制信号和第二驱动控制信号使能。

4.如权利要求3所述的半导体存储器件，其中，所述第一I/O线驱动器包括：

第一I/O线感测放大器，所述第一I/O线感测放大器被配置成响应于所述第一驱动控制信号而感测和放大所述第一输出数据以产生第一驱动信号；以及

第一I/O线选择器，所述第一I/O线选择器被配置成在所述测试模式期间响应于所述第一驱动信号而将信号供应到所述第一全局I/O线和所述第一测试I/O线二者。

5.如权利要求1所述的半导体存储器件，还包括第二写入驱动器，所述第二写入驱动器被配置成：当在所述测试模式期间执行所述写入操作时，将所述第一输入数据从所述第二全局I/O线传送到第二单元块，以使所述第一输入数据储存在所述第二单元块中。

6.如权利要求5所述的半导体存储器件，还包括第二I/O线驱动器，所述第二I/O线驱动器被配置成：当在所述测试模式期间执行所述读取操作时，响应于从所述第二单元块接收第二输出数据而将信号供应到所述第二全局I/O线和第二测试I/O线。

7.如权利要求6所述的半导体存储器件，还包括选择发送器，所述选择发送器被配置成：当在所述测试模式期间执行所述读取操作时，防止所述第二全局I/O线上的信号 被传送到第二焊盘。

8.如权利要求6所述的半导体存储器件，还包括比较信号发生器，所述比较信号发生器被配置成：当在所述测试模式期间执行所述读取操作时，将所述第一测试I/O线上的信号与所述第二测试I/O线上的信号进行比较并且产生比较信号作为响应。

9.如权利要求8所述的半导体存储器件，还包括比较信号输出单元，所述比较信号输出单元被配置成响应于读取测试模式信号而将所述比较信号传送到第二焊盘。

10.一种半导体存储器件，包括：

写入控制器，所述写入控制器被配置成：当在第一测试模式或第二测试模式期间执行写入操作时，将第一输入数据从第一焊盘传送到第一全局I/O线和第二全局I/O线；

第一写入驱动器，所述第一写入驱动器被配置成：当在所述第一测试模式或所述第二测试模式期间执行写入操作时，将所述第一输入数据从所述第一全局I/O线传送到第一单元块，以使所述第一输入数据储存在所述第一单元块中；以及

第一I/O线驱动器，所述第一I/O线驱动器被配置成：当在所述第一测试模式期间执行读取操作时响应于从所述第一单元块接收第一输出数据而将信号供应到第一测试I/O线，所述第一I/O线驱动器还被配置成：当在所述第二测试模式期间执行读取操作时，响应于接收所述第一输出数据而将信号供应到所述第一全局I/O线和所述第一测试I/O线。

11.如权利要求10所述的半导体存储器件，其中，当在所述第二测试模式期间执行读取操作时，所述第一全局I/O线上的信号通过所述第一焊盘来供应。

12.如权利要求10所述的半导体存储器件，还包括驱动控制信号发生器，所述驱动控制信号发生器被配置成：当在所述第一测试模式或所述第二测试模式期间执行写入操作或读取操作时，将第一驱动控制信号和第二驱动控制信号使能。