[发明专利]一种半导体激光器以及窄带高反射率薄膜有效

专利信息
申请号: 201310019896.3 申请日: 2013-01-18
公开(公告)号: CN103124045A 公开(公告)日: 2013-05-29
发明(设计)人: 王军营 申请(专利权)人: 西安卓铭光电科技有限公司
主分类号: H01S5/028 分类号: H01S5/028
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 710018 陕西省西安市经*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 半导体激光器 以及 窄带 反射率 薄膜
【权利要求书】:

1.一种半导体激光器,其特征在于,所述半导体激光器的后腔面设置有窄带高反射率薄膜,其中所述窄带高反射率薄膜的反射光谱在目标波长的长波长方向和短波长方向两侧设置有反射率大于80%的高反射率区域,且所述高反射率区域的宽度小于或等于5nm。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述目标波长处于790nm至850nm之间。

3.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述窄带高反射率薄膜的反射率在所述高反射率区域的长波长方向和短波长方向的5nm至20nm范围内下降至50%以下。

4.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述窄带高反射率薄膜的反射光谱随温度的变化偏差不超过1nm。

5.一种窄带高反射率薄膜,其特征在于,所述窄带高反射率薄膜设置于半导体激光器的后腔面,其中所述窄带高反射率薄膜的反射光谱在目标波长的长波长方向和短波长方向两侧设置有反射率大于80%的高反射率区域,且所述高反射率区域的宽度小于或等于5nm。

6.根据权利要求5所述的窄带高反射率薄膜,其特征在于,所述目标波长处于790nm至850nm之间。

7.根据权利要求5所述的窄带高反射率薄膜,其特征在于,所述窄带高反射率薄膜的反射率在所述高反射率区域的长波长方向和短波长方向的5nm至20nm范围内下降至50%以下。

8.根据权利要求5所述的窄带高反射率薄膜,其特征在于,所述窄带高反射率薄膜的反射光谱随温度的变化偏差不超过1nm。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安卓铭光电科技有限公司,未经西安卓铭光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310019896.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top