[发明专利]一种半导体激光器有效
申请号: | 201310019956.1 | 申请日: | 2013-01-18 |
公开(公告)号: | CN103124046A | 公开(公告)日: | 2013-05-29 |
发明(设计)人: | 王军营 | 申请(专利权)人: | 西安卓铭光电科技有限公司 |
主分类号: | H01S5/20 | 分类号: | H01S5/20 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 710018 陕西省西安市经*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体激光器 | ||
1.一种半导体激光器,其特征在于,包括衬底以及依次层叠设置于所述衬底上的缓冲层、N型下限制层、下波导层、量子阱层、上波导层、P型上限制层、过渡层以及电极接触层,所述上波导层和所述下波导层均为铝镓铟磷材料,且所述上波导层的材料组分为Alx1Gay1In0.49P,所述下波导层的材料组分为Alx2Gay2In0.49P,其中x1>x2,y1<y2,x1+y1+0.49=1,x2+y2+0.49=1,激光器激射波长范围为630nm~640nm。
2.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述衬底为<100>解理面偏向<111>解理面6度至15度的N型镓砷材料。
3.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述缓冲层包括层叠设置于所述衬底上的第一缓冲层和第二缓冲层,其中所述第一缓冲层为N型镓砷材料,所述第二缓冲层为N型镓铟磷材料。
4.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述N型下限制层和所述P型上限制层均为铝铟磷材料,二者的厚度范围为500nm至1000nm,且其中铝和铟的组分原子数比例为0.51:0.49。
5.根据权利要求4所述的半导体激光器,其特征在于,所述P型上限制层的厚度比所述N型下限制层厚度要厚。
6.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述上波导层和所述下波导层的厚度范围为80nm至700nm。
7.根据权利要求6所述的半导体激光器,其特征在于,所述上波导层的厚度不同于所述下波导层的厚度。
8.根据权利要求6所述的半导体激光器,其特征在于,所述量子阱层为镓铟磷材料,光致发光谱为620nm~630nm。
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