[发明专利]一种半导体激光器有效

专利信息
申请号: 201310019956.1 申请日: 2013-01-18
公开(公告)号: CN103124046A 公开(公告)日: 2013-05-29
发明(设计)人: 王军营 申请(专利权)人: 西安卓铭光电科技有限公司
主分类号: H01S5/20 分类号: H01S5/20
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 710018 陕西省西安市经*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体激光器
【权利要求书】:

1.一种半导体激光器,其特征在于,包括衬底以及依次层叠设置于所述衬底上的缓冲层、N型下限制层、下波导层、量子阱层、上波导层、P型上限制层、过渡层以及电极接触层,所述上波导层和所述下波导层均为铝镓铟磷材料,且所述上波导层的材料组分为Alx1Gay1In0.49P,所述下波导层的材料组分为Alx2Gay2In0.49P,其中x1>x2,y1<y2,x1+y1+0.49=1,x2+y2+0.49=1,激光器激射波长范围为630nm~640nm。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述衬底为<100>解理面偏向<111>解理面6度至15度的N型镓砷材料。

3.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述缓冲层包括层叠设置于所述衬底上的第一缓冲层和第二缓冲层,其中所述第一缓冲层为N型镓砷材料,所述第二缓冲层为N型镓铟磷材料。

4.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述N型下限制层和所述P型上限制层均为铝铟磷材料,二者的厚度范围为500nm至1000nm,且其中铝和铟的组分原子数比例为0.51:0.49。

5.根据权利要求4所述的半导体激光器,其特征在于,所述P型上限制层的厚度比所述N型下限制层厚度要厚。

6.根据权利要求1所述的半导体激光器,其特征在于,所述上波导层和所述下波导层的厚度范围为80nm至700nm。

7.根据权利要求6所述的半导体激光器,其特征在于,所述上波导层的厚度不同于所述下波导层的厚度。

8.根据权利要求6所述的半导体激光器,其特征在于,所述量子阱层为镓铟磷材料,光致发光谱为620nm~630nm。

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