[发明专利]一种高能量脉冲式磁控溅射方法及磁控溅射装置无效
申请号: | 201310024628.0 | 申请日: | 2013-01-23 |
公开(公告)号: | CN103938166A | 公开(公告)日: | 2014-07-23 |
发明(设计)人: | 卢伟贤;谢贯尧;张忠祥;易敏龙;刘耀鸿 | 申请(专利权)人: | 香港生产力促进局;香港表面处理学会有限公司 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 武君 |
地址: | 中国香港九龙*** | 国省代码: | 中国香港;81 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高能量 脉冲 磁控溅射 方法 装置 | ||
1.一种高能量脉冲式磁控溅射方法,其特征在于,包括以下几个步骤:
步骤一:将样品清洗置入真空腔中,安装阴极靶材,对真空腔进行抽真空;
步骤二:通入氩气对样品进行等离子体清洗;
步骤三:通入氩气作为溅射气体,在样品的表面进行直流溅射或脉冲溅射,形成过渡层;
步骤四:通入反应气体,在过渡层表面进行脉冲溅射,形成涂层;
步骤五:关闭溅射阴极及电源,停止通入的反应气体,取出表面溅射有涂层的样品。
2.根据权利要求1所述的高能量脉冲式磁控溅射方法,其特征在于,所述步骤一中真空腔抽真空后气体压强低于1E-4mbar。
3.根据权利要求1所述的高能量脉冲式磁控溅射方法,其特征在于,所述步骤一中靶材为单极靶材或双极靶材,靶材的材料为金属、半导体或者合金。
4.根据权利要求1所述的高能量脉冲式磁控溅射方法,其特征在于,所述步骤二中通入氩气对样品进行等离子体清洗具体为:通入氩气的气体流量为80~120sccm,偏压电源脉冲时间为0.4~2.3μs,偏压电源脉冲频率为5~350kHz,偏压电源电压为20~50V,偏压电源电流为0.1~1.2A,向样品施加偏压10~20分钟。
5.根据权利要求4所述的高能量脉冲式磁控溅射方法,其特征在于,所述通入氩气的气体流量为120sccm,所述偏压电源脉冲时间为0.8μs,所述偏压电源脉冲频率为240kHz,所述偏压电源电压为50V,所述偏压电源电流为0.27A。
6.根据权利要求1所述的高能量脉冲式磁控溅射方法,其特征在于,所述步骤三中采用直流溅射过渡层时具体为:通入氩气的气体流量为80~120sccm,直流电源电压为500V,直流电源电流为0.3A,直流电源功率为170W,溅射时间为10~15分钟。
7.根据权利要求1所述的高能量脉冲式磁控溅射方法,其特征在于,所述步骤三中采用脉冲溅射过渡层时具体为:通入氩气的气体流量为80-120sccm,直流电源电流为1.5~3A,直流电源电压为600~1016V,直流电源功率为1800~3000W, 直流电源脉冲占空比为ON/Period: (10~80)/(130~1050)μs,脉冲溅射时间为10~15分钟。
8.根据权利要求1所述的高能量脉冲式磁控溅射方法,其特征在于,所述步骤四中在过渡层的表面进行脉冲溅射成膜材料的过程具体为:通入反应气体的气体流量15~35sccm,直流电源电流1.5~3A,直流电源电压600~1016V,直流电源功率为1800~3000W, 直流电源脉冲占空比为ON/Period: (10~80)/(130~1050)μs,直流电源溅射率为1~1.8微米/小时,溅射时间大于2小时。
9.根据权利要求1所述的高能量脉冲式磁控溅射方法,其特征在于,所述步骤四中通过控制直流电源功率、直流电源脉冲占空比以及通入反应气体的气体流量,控制制备的涂层颜色。
10.一种高能量脉冲式磁控溅射装置,包括真空腔、抽真空设备、电源、中央控制单元,其特征在于,所述电源包括脉冲发生单元、偏压电源和直流电源;所述偏压电源连接于样品上,所述直流电源连接于靶材上,所述脉冲发生单元通过数据线与中央控制单元连接,并且该脉冲发生单元由直流电源推动产生脉冲电流,并将该电流输出至真空腔的靶材中。
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