[发明专利]一种高空间分辨共焦拉曼光谱探测方法与装置有效

专利信息
申请号: 201310027359.3 申请日: 2013-01-21
公开(公告)号: CN103105231A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 赵维谦;崔晗;邱丽荣;王允 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01J3/44 分类号: G01J3/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 空间 分辨 共焦拉曼 光谱 探测 方法 装置
【说明书】:

技术领域

本发明属于光学显微成像及光谱测量技术领域,涉及一种高空间分辨共焦拉曼光谱探测方法与装置,可用于各类样品的三维形貌重构及微区光谱探测。

技术背景

激光共焦拉曼光谱测试技术是将显微分析技术与拉曼光谱分析技术结合起来的新技术,它将入射激光通过显微镜聚焦到样品上,从而可以在不受周围物质干扰的情况下,获得所照样品微区的分子结构等,被称为分子探针。它不仅可以观测样品同一层面内不同微区的拉曼光谱信号,还能分别观测样品内深度不同的各个层面的拉曼信号,对被测样品进行断层扫描,从而在不损伤样品的情况下达到进行“光学切片”的效果。激光共焦拉曼光谱测试技术由于其无损光谱层析成像能力及高分辨率,已广泛应用于物理、化学、生物医学、石油化工、环境科学、材料科学、地质、刑侦和珠宝等领域。

目前,典型的激光共焦拉曼光谱探测仪的原理如图1所示,激光器发出光束后,经过第一聚光镜、第一针孔后、第二聚光镜后扩束成为平行光,透过第一分光系统、四分之一波片、物镜后,聚焦在被测样品上,激发出载有样品光谱特性的拉曼散射光;移动被测样品,使对应被测样品不同区域的拉曼散射光再次通过四分之一波片并被第一分光系统反射,经第四聚光镜聚焦到第三针孔后,由第五聚光镜汇聚到第一光谱仪,从而,测得载有被测样品光谱信息的拉曼散射光。

现有激光共焦拉曼光谱探测仪存在以下问题:1、为了减小拉曼散射光的能量损失,系统中选取的针孔通常在150μm~200μm之间,系统利用共焦方式进行焦点定位,针孔尺寸直接影响共焦轴向定位曲线的半高宽,针孔尺寸较大导致系统定焦精度降低,即降低空间分辨力;2、利用微弱的拉曼散射光进行定位,降低了系统的灵敏度;3、在长时间光谱探测过程中,系统容易受环境等因素影响发生漂移,产生离焦,降低系统空间分辨力;4、系统只可进行光谱探测,模式单一。上述原因限制了共焦拉曼光谱显微系统探测微区光谱的能力,制约了共焦拉曼光谱技术的进一步发展。

基于上述情况,本发明提出共焦探测系统利用现有共焦拉曼光谱探测系统收集到的样品散射光中遗弃的强于样品拉曼散射光103~106倍的瑞利光束进行高精度探测,使其与拉曼光谱探测系统有机融合,以期实现高空间分辨共焦拉曼光谱成像与探测,而实现高空间分辨力的光谱探测是目前光谱显微测试领域亟待解决的问题,具有极其重要的理论和学术价值。

本发明专利的具体思路是:将激光共焦技术与拉曼光谱探测技术有机结合,共焦系统利用系统收集到的样品散射光中的瑞利光束对聚焦光斑的焦点进行实时跟踪与空间位置探测,拉曼光谱探测系统利用系统收集到的样品的散射光中的拉曼散射光进行光谱探测,然后再将共焦探测系统信号与拉曼光谱探测系统信号有机融合,从而实现激光共焦拉曼光谱系统高空间分辨探测。

发明内容

本发明的目的是:为了克服现有共焦拉曼光谱探测技术空间分辨力难以提高的不足,提出一种具有高空间分辨力的共焦拉曼光谱探测方法和装置。

本发明的目的是通过下述技术方案实现的。

本发明提供了一种高空间分辨共焦拉曼光谱探测方法,利用二向色分光系统将系统收集到的散射光分离为瑞利光和拉曼散射光,瑞利光进入共焦探测系统进行焦点定位,拉曼散射光进入拉曼光谱探测系统进行光谱探测,利用共焦曲线最大值M与焦点O位置精确对应这一特性,通过寻找最大值来精确捕获激发光斑焦点位置的光谱信息,实现高空间分辨的光谱探测,该方法的具体实现步骤如下:

1)通过激发光束产生系统产生激发光,经过第一分光系统、物镜后,聚焦在被测样品上,并激发出瑞利光和载有被测样品光谱特性的拉曼散射光;

2)移动被测样品,使瑞利光及对应被测样品不同区域的拉曼散射光再次经过物镜,并被第一分光系统反射至二向色分光系统,经二向色分光系统分光对拉曼散射光和瑞利光进行分离;

3)瑞利光被二向色分光系统反射进入共焦探测系统,利用共焦探测系统中的第一探测器,测得反映样品凹凸变化的强度响度相应I(ν,u),即可进行三维尺度层析成像测试,其中,v为横向归一化光学坐标,u为轴向归一化光学坐标;

4)拉曼散射光经二向色分光系统透射进入拉曼光谱探测系统,利用拉曼光谱探测系统测得载有被测样品光谱特性的拉曼散射信号I(λ),即可进行光谱测试,其中λ为波长;

5)将I(λ)、I(ν,u)传送到数据处理模块进行数据处理,从而获得包含被测样品位置信息I(ν,u)和光谱信息I(λ)的三维测量信息I(ν,u,λ);

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