[发明专利]漏光检测系统及方法

权利要求书

1.一种漏光检测系统，应用于一电子装置中，对一待测屏幕进行漏光检测，其特征在于，所述漏光检测系统包括：

获取模块，用于获取所述待测屏幕各像素的亮度值；

划分模块，用于将待测屏幕中相邻的多个像素划分为一个被测点，并根据各被测点中包含的每个像素的亮度值计算得到每个被测点的亮度值；

区域定义模块，用于根据各被测点的位置，将处于所述待测屏幕中心位置的多个被测点组成的区域定义为参考区域，将所述参考区域周围的其他被测点组成的区域定义为被测区域；及

检测模块，用于将各个被测区域中每个被测点的亮度值与所述参考区域的亮度值进行比较，检测所述被测区域的各被测点是否漏光。

2.如权利要求1所述的漏光检测系统，其特征在于，所述被测点的亮度值为所述被测点包括的全部像素的亮度平均值，所述参考区域的亮度值为所述参考区域内所有被测点的亮度值的平均值。

3.如权利要求1所述的漏光检测系统，其特征在于，所述检测模块计算出所述被测区域中各被测点的亮度值分别与所述参考区域的亮度值的差值，以及上述得到的每个差值与所述参考区域的亮度值的比值，当任意一个计算得到的比值大于或等于一预设值时，所述检测模块判断与该比值相对应的一个被测点漏光，所述被测区域漏光。

4.如权利要求1所述的漏光检测系统，其特征在于，所述检测模块还用于通过将所述参考区域的亮度值与一预设的极限亮度值进行比较，从而检测所述参考区域是否漏光，其中，当所述参考区域的亮度值大于或等于预设的极限亮度值时，所述检测模块判断所述参考区域漏光。

5.如权利要求3或4所述的漏光检测系统，其特征在于，该系统还包括：

记录模块，用于将检测到的漏光的被测点的信息以及漏光的各被测点的亮度值与所述参考区域的亮度值的比值记录在电子装置的存储器中，并当所述参考区域存在漏光时，将所述参考区域的亮度值记录在所述存储器中。

6.一种漏光检测方法，应用于一电子装置中，对一待测屏幕进行漏光检测，其特征在于，所述漏光检测方法包括：

获取步骤，获取所述待测屏幕各像素的亮度值；

划分步骤，将待测屏幕中相邻的多个像素划分为一个被测点，并根据各被测点中包含的每个像素的亮度值计算得到每个被测点的亮度值；

区域定义步骤，根据各被测点的位置，将处于所述待测屏幕中心位置的多个被测点组成的区域定义为参考区域，将所述参考区域周围的其他被测点组成的区域定义为被测区域；及

检测步骤，将各个被测区域中每个被测点的亮度值与所述参考区域的亮度值进行比较，检测所述被测区域是否漏光。

7.如权利要求6所述的漏光检测方法，其特征在于，所述被测点的亮度值为所述被测点包括的全部像素的亮度平均值，所述参考区域的亮度值为所述参考区域内所有被测点的亮度值的平均值。

8.如权利要求6所述的漏光检测方法，其特征在于，在所述判断步骤中，计算出所述被测区域中各被测点的亮度值分别与所述参考区域的亮度值的差值，以及上述得到的每个差值与所述参考区域的亮度值的比值，当任意一个计算得到的比值大于或等于一预设值时，所述检测步骤判断与该比值对应的一个被测点漏光，所述被测区域漏光。

9.如权利要求6所述的漏光检测方法，其特征在于，所述检测步骤包括：

通过将所述参考区域的亮度值与一预设的极限亮度值进行比较，从而检测所述参考区域是否漏光；其中，当所述参考区域的亮度值大于或等于预设的极限亮度值时，所述检测步骤判断所述参考区域漏光。

10.如权利要求8或9所述的漏光检测方法，其特征在于，该漏光检测方法还包括：

记录步骤，将检测到的漏光的被测点的信息以及漏光的各被测点的亮度值与所述参考区域的亮度值的比值记录在电子装置的存储器中，并当所述参考区域存在漏光时，将所述参考区域的亮度值记录在所述存储器中。