[发明专利]显示检测过程的方法有效
申请号: | 201310031670.5 | 申请日: | 2013-01-28 |
公开(公告)号: | CN103970633A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 殷欣靖 | 申请(专利权)人: | 孕龙科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/25 | 分类号: | G06F11/25 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周长兴 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 检测 过程 方法 | ||
技术领域
本发明与数字讯号处理有关,更详细地是指一种显示检测过程的方法。
背景技术
随着数字科技的进步,如记忆卡、电子芯片、液晶屏幕(LCD)的图像处理芯片、以及互补性金属氧化物半导体(Complementary Metal-Oxide Semiconductor,CMOS)等使用数字讯号传输或储存数据的电子装置日渐普及。
当研发人员在研发与检测具有上述电子装置时,通常会利用逻辑分析仪来撷取输入至该电子装置、或该电子装置所输出的数字讯号,并通过于一显示设备上显示的方式供研发人员分析与检测上述所撷取的数字讯号是否正常,以判定上述电子产品的设计是否正常。
市售的逻辑分析仪在撷取数字数据,并将其转译显示于显示设备上后,大多是直接以横轴位移的波型图、或是以波型图解译对应的数值列来显示所撷取的数字数据。
然而,当研发人员利用逻辑分析仪在撷取数字数据后,仍须自行逐项记录所撷取的内存总线讯号被写入与被读取的数据数值进行比对,才可判定电子产品数字数据处理的设计是否正常。
而众所皆知的是,随着科技的进步,各种电子产品所需处理的数字数据量越来越庞大,使得所显示的波型图或是数值列将会变的繁多与复杂,而此种显示方式不仅会造成研发人员检测的困难度增加,而可能有误判的情形发生外,且亦会造成检测时间的延宕,进而造成研发效率低落。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示检测过程的方法,于检测时,以图形化的方式显示一待测物进行检测时的各个检测过程。
为实现上述目的,本发明提供的显示检测过程的方法,用以显示一待测物进行检测时的过程;该显示方法包含有下列步骤:
A、建立一资料库,且该资料库中包含有复数组资料数据、以及复数种分别对应该资料数据的标识;其中,所述的资料数据是指通过对应该待测物的通讯协议的译码手段,对所撷取的数据进行译码后取得的数据;而所述的标识包含有走向标识、指令标识、数值标识、地址标识、以及状态标识其中的一者;其中,走向标识用以显示讯号封包的走向;指令标识用以显示所使用的指令;数值标识用以显示写入至该待测物、或自该待测物读取所得的数值;地址标识用以显示写入数值至该待测物、或自该待测物读取数值的地址;状态标识用以显示该待测物的工作状态;
B、选择对应该待测物的通讯协议的解碼手段;
C、撷取输入至该待测物的复数个讯号封包、或是自该待测物送出的复数个讯号封包;
D、以步骤B所选择的解碼手段,将步骤C所撷取的讯号封包解译成一资料数据,并选择步骤A的资料库中对应该资料数据的标识;
E、显示步骤D所选择的该些标识于一显示设备上。
所述显示检测过程的方法,其中,于步骤D中,以不同于其他标识的显示方式,显示最后一个所选择的标识。
所述显示检测过程的方法,其中,所述的不同显示方式是指以不同颜色显示最后一个选择的标识。
所述显示检测过程的方法,其中,所述的不同显示方式是指以闪烁的方式显示最后一个选择的标识。
所述显示检测过程的方法,其中,于步骤D之后,重复执行步骤C至步骤E一预定次数。
所述显示检测过程的方法,其中,于步骤D之后,依据步骤C选择的顺序,将该些标识逐步地显示于该显示设备上。
所述显示检测过程的方法,其中,于步骤D之后,同时将该些标识显示于该显示设备上。
本发明提供的显示检测过程的方法于检测时,可以图形化的方式显示一待测物进行检测时的各个检测过程。
附图说明
图1为适用本发明显示检测过程的方法的测试系统图;
图2为本发明较佳实施例的流程图;
图3为执行步骤D后,显示于显示设备上的标识。
附图中主要组件符号说明:
10计算机;12传输接口;20逻辑分析仪;30待检测物;41~44标识。
具体实施方式
本发明提供的显示检测过程的方法包含有下列步骤:
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