[发明专利]用来减低镜片加热现象的光掩膜有效
申请号: | 201310031922.4 | 申请日: | 2013-01-28 |
公开(公告)号: | CN103293846A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
发明(设计)人: | 周建明;安东·戴佛乐;艾瑞克·拜尔斯 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | G03F1/26 | 分类号: | G03F1/26;G03F1/70;G03F1/76 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用来 减低 镜片 加热 现象 光掩膜 | ||
1.一种减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,包含:
一基板,其包括有效的图案区域;
位于所述有效的图案区域中的一目标图案,用来将所述目标图案建立到一晶圆上;以及
一重分配图案,位于所述有效的图案区域中,用来将能量重新分配至一镜片而不会被转印至所述晶圆上,也不会在将所述目标图案建立至所述晶圆上时修改所述目标图案。
2.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述目标图案的尺寸和所述重分配图案的尺寸是不同的。
3.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述基板包括石英和吸收材料的其中至少一种。
4.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述目标图案是用来构建一电子装置。
5.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述重分配图案位在所述目标图案之中。
6.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述重分配图案是一种用于化学机械抛光垫的一种次分辨率填充图案。
7.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,更包括:
多个所述目标图案,位于所述有效的图案区域内;以及
多个重分配图案,位于所述有效的图案区域内,其中所述重分配图案的其中一个位于所述目标图案之间。
8.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述重分配图案的尺寸超越一光刻系统的分辨率的极限。
9.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述重分配图案对于所述目标图案具有至少一个垂直的方向、一个水平的方向和一个倾斜的方向。
10.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述重分配图案具有一个周期性的线条/间隔特征,其特征间距介于50纳米至150纳米之间。
11.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述重分配图案使得所述镜片具有减低的像差响应。
12.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述重分配图案使得所述镜片具有一个平衡过的热负荷。
13.根据权利要求1所述的减轻透镜加热用的光掩膜,其特征在于,所述重分配图案使得所述目标图案保持成像保真性。
14.一种用来重新分配透镜受热光掩膜的方法,其特征在于,包含:
提供一目标图案和一镜片;
依照所述目标图案和所述镜片产生一个镜片受热敏感性分布图;
决定所述目标图案是否在所述镜片上形成了一个平衡过的热负荷;
如果所述目标图案没有在所述镜片上形成所述平衡过的热负荷,引入一与所述目标图案相邻的重分配图案;
决定所述重分配图案与所述目标图案一起是否在所述镜片上形成所述平衡过的热负荷;及
当所述重分配图案与所述目标图案一起在所述镜片上形成所述平衡过的热负荷时,输出所述重分配图案与所述目标图案而形成一光掩膜,其得以在所述镜片上形成所述平衡过的热负荷。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南亚科技股份有限公司,未经南亚科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310031922.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种大坝水力升船机
- 下一篇:光学检测装置及其工作方法
- 同类专利
- 专利分类
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备