[发明专利]一种基于荧光法的物质导热分析装置

权利要求书

1.一种基于荧光法的物质导热分析装置，其特征在于：包括探头（1）、光电模块、数据处理模块；所述探头（1）用于探测设置在被测物上的荧光传感材料（7），然后将探测到的光信号通过光纤（2）传输至光电模块；所述光电模块将接收的光信号转换为电信号并且将电信号转化为温度信号，然后将温度信号发送至数据处理模块；所述数据处理模块根据每一次激励脉冲所对应的温度信号得到温度变化曲线，由温度变化曲线得到温度变化的平均速率和温度从最高到最低所经历的时间，通过将上述平均速率和经历的时间和标准数据比对得到被测物质的热扩散系数，再将上述热扩散系数传输至上位计算机进行导热分析。

2.根据权利要求1所述的一种基于荧光法的物质导热分析装置，其特征在于：所述光电模块包括光学分束器（3）、光电转换电路、光源驱动电路、信号调理与数据处理电路，其中光电模块通过光学分束器（3）和光纤（2）相连，所述光学分束器（3）上设置有光源（4）和光探测器（5），所述光源（4）通过光源驱动电路与光电转换电路连接，所述光探测器（5）与光电转换电路相连；所述光电转换电路和信号调理与数据处理电路相连；所述信号调理与数据处理电路与数据处理模块连接。

3.根据权利要求2所述的一种基于荧光法的物质导热分析装置，其特征在于：所述光电模块还包括一同步电路，所述同步电路连接在光源驱动电路和光电转换电路之间。

4.根据权利要求2所述的一种基于荧光法的物质导热分析装置，其特征在于：所述光源（4）还包括一个用作荧光传感材料的激励光源。

5.根据权利要求1所述的一种基于荧光法的物质导热分析装置，其特征在于：所述探头（1）包括一个光学透镜（6）。

6.根据权利要求5所述的一种基于荧光法的物质导热分析装置，其特征在于：所述光学透镜（6）的主光轴与光纤（2）的中心线重合，所述光学透镜的会聚点落在荧光传感材料（7）上。