[发明专利]单模光子晶体垂直腔面发射激光器及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201310034295.X 申请日: 2013-01-29
公开(公告)号: CN103107482A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 渠红伟;张冶金;张建心;刘磊;齐爱谊;王海玲;马绍栋;石岩;郑婉华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/183 分类号: H01S5/183
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 单模 光子 晶体 垂直 发射 激光器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种单模光子晶体垂直腔面发射激光器,其特征在于,包括:

衬底;

N型电极,形成于所述衬底的背面;

N型DBR,形成于所述衬底的正面,用于形成电流注入通道;

有源区,形成于所述N型DBR的上方,用于提供光增益;

台形P型DBR,形成于所述有源区上方,用于提供高反射率,并形成电流注入通道;

绝缘层,形成于台形P型DBR的侧面、除台形P型DBR覆盖面积之外的N型DBR的上方,并在台形P型DBR上方形成第一环形结构;

P型电极,形成于所述绝缘层的上方,并在台形P型DBR上方形成第二环形结构,该第二环形结构的半径小于上述第一环形结构的半径,该第二环形结构内构成激光器的出光窗口;

光子晶体,形成于所述出光窗口下方的台形P型DBR上;以及

透明导电层,形成于P型电极和所述第二环形结构的上方。

2.根据权利要求1所述的单模光子晶体垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述透明导电层为厚度λ/4的氧化铟锡材料。

3.根据权利要求1所述的单模光子晶体垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述光子晶体的刻蚀深度为P型DBR厚度的50-80%。

4.根据权利要求3所述的单模光子晶体垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述光子晶体的直径在2-3μm左右,周期为6μm,占空比0.5。

5.根据权利要求3所述的单模光子晶体垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述光子晶体为带缺陷区的圆型孔状、三角形孔或花瓣状孔的光子晶体。

6.根据权利要求1所述的单模光子晶体垂直腔面发射激光器,其特征在于:

所述N型DBR为预设周期的调制掺杂且组分渐变的Al0.1Ga0.9As/Al0.9Ga0.1As材料交替组成;

所述P型DBR为预设周期的调制掺杂且组分渐变的Al0.1Ga0.9As/Al0.9Ga0.1As材料交替组成。

7.根据权利要求6所述的单模光子晶体垂直腔面发射激光器,其特征在于,还包括:

高铝组分氧化限制层,为所述P型DBR中最下一层Al0.98Ga0.1As进行湿法氧化而形成。

8.根据权利要求1所述的单模光子晶体垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述有源区为预设个数的GaAs量子阱、InGaAs量子阱等,其厚度为Nλ,λ为激射波长,N为整数。

9.一种单模光子晶体垂直腔面发射激光器的制备方法,用于制备权利要求1所述的单模光子晶体垂直腔面发射激光器,其特征在于,包括:

制备外延片,该外延片包括衬底、及依次制备在衬底上的N型DBR、有源区和P型DBR;

对所述外延片上的P型DBR进行刻蚀,从而形成台形P型DBR;

在所述台形P型DBR的上方及外侧淀积绝缘层;

刻蚀所述台形P型DBR的上方的绝缘层,形成第一环形结构;

在所述绝缘层的上方,包括所述第一环形结构的上方,沉积P型电极;

刻蚀所述第一环形结构内中心处的P型电极,形成第二环形结构,该第二环形结构的半径小于上述第一环形结构的半径,该第二环形结构内构成激光器的出光窗口;

在所述出光窗口内的台形P型DBR上刻蚀光子晶体;

在所述P型电极的上方,包括所述第二环形结构的上方,沉积透明导电层;以及

刻蚀去除该单模光子晶体垂直腔面发射激光器区域外的透明导电层。

10.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,所述沉积透明导电层的步骤中,所述透明导电层为厚度λ/4的氧化铟锡材料。

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