[发明专利]一种串联电容检测方法和设备

权利要求书

1.一种串联电容检测方法，其特征在于，包括：

对串联电容中的各个电容同时进行检测；

判断所述串联电容中是否存在失效电容，所述失效电容为处于短路状态、开路状态或容值老化状态的电容；

在所述串联电容中存在失效电容时，用备用电容替换所述失效电容。

2.根据权利要求1所述的串联电容检测方法，其特征在于，所述对串联电容中的各个电容同时进行检测包括：

同时对所述串联电容中的各个电容的正、负极的电压值进行检测。

3.根据权利要求1或2所述的串联电容检测方法，其特征在于，所述判断所述串联电容中是否存在失效电容包括：

若所述串联电容中存在正、负极的电压值相等的电容，判断所述正、负极的电压值相等的电容为处于短路状态的失效电容。

4.根据权利要求1或2所述的串联电容检测方法，其特征在于，所述判断所述串联电容中是否存在失效电容包括：

在所述串联电容充电完成后，若所述串联电容中存在电压值有波动的电容，判断所述正极的电压值有波动、负极的电压值不变的电容为处于开路状态的失效电容，所述电压值有波动是指在充电后正常电压值的基础上有超出正常电压变化范围的电压值变化；

或在停止对所述串联电容充电，并对所述串联电容放电后，若所述串联电容中存在在预设时间段内正极的电压值有超出预设范围的下降且负极的电压值不变的电容，判断所述在预设时间段内正极的电压值有超出预设范围的下降且负极的电压值不变的电容为处于开路状态的失效电容。

5.根据权利要求1或2所述的串联电容检测方法，其特征在于，所述判断所述串联电容中是否存在失效电容包括：

在所述串联电容充电过程中，若所述串联电容中存在正极电压值等于稳态阈值、负极电压值为0的电容，判断所述正极电压值等于稳态阈值、负极电压值为0的电容为处于开路状态的失效电容。

6.根据权利要求1或2所述的串联电容检测方法，其特征在于，所述判断所述串联电容中是否存在失效电容包括：

在所述串联电容充电完成后，控制所述串联电容中的k个串联的电容放电，其中，所述串联电容中包括n个电容，n≥2，2≤k≤n；

根据所述k个串联的电容的放电时间、放电的起始电压和放电的终止电压获得所述k个串联的电容的电容值；

旁路所述k个串联的电容中的一个待测电容得到k-1个串联的电容；

控制所述k-1个串联的电容放电；

根据所述k-1个串联的电容的放电时间、放电的起始电压和放电的终止电压获得所述k-1个串联的电容的电容值；

根据所述k个串联的电容的电容值和所述k-1个串联的电容的电容值获得所述待测电容的测量电容值；

将所述待测电容的测量电容值与所述待测电容的可用电容值阈值进行比较，所述可用电容值阈值是指电容处于可用状态的最低电容值；

若所述待测电容的测量电容值小于所述电容的可用电容值阈值，判断所述待测电容处于容值老化状态。

7.一种串联电容检测设备，其特征在于，包括：

检测单元，用于对串联电容中的各个电容同时进行检测；

判断单元，用于根据所述检测单元的检测结果判断所述串联电容中是否存在失效电容，所述失效电容为处于短路状态、开路状态或容值老化状态的电容；

控制单元，用于在所述判断单元判断所述串联电容中存在失效电容时，用备用电容替换所述失效电容。

8.根据权利要求7所述的串联电容检测设备，其特征在于，所述检测单元具体用于：

同时对所述串联电容中的各个电容的正、负极的电压值进行检测。

9.根据权利要求7或8所述的串联电容检测设备，其特征在于，所述串联电容检测设备还包括：

二次电源，所述二次电源与所述串联电容连接，用于对所述串联电容充电。

10.根据权利要求7至9任一所述的串联电容检测设备，其特征在于，所述判断单元具体用于：

若所述串联电容中存在正、负极的电压值相等的电容，判断所述正、负极的电压值相等的电容为处于短路状态的失效电容。