[发明专利]一种PDP模组局部低放电消除方法

说明书

技术领域

　　本发明涉及的是一种等离子模组的调试方法，尤其是一种PDP模组局部低放电消除方法。

背景技术

　　在现有技术中，公知的技术是PDP模组驱动波形主要由复位期（reset）、寻址期（address）及维持期（sustain）组成。复位期：通过斜坡波形对屏施加较高的电压，使所有的放电单元产生放电，并使各单元在寻址期开始前，放电状态尽可能趋于一致。寻址期：Y电极施加扫描脉冲，并且对需要点亮的单元在A电极施加寻址脉冲信号，使需要点亮的单元产生放电，并积重新累壁电荷，以便于维持期正常放电。维持期：X、Y电极交替施加维持脉冲信号，需点亮的单元持续放电发光。

     PDP屏由多个单独的放电单元组成，每一个放电单元受屏材料、结构及制造工艺等影响，放电特性可能不同，并且可能产生放电不良。为消除放电不良，一般措施是对复位期的波形或电压进行调整，但调整的范围、效果都有一定限制，而且可能影响寻址放电特性。

    寻址期放电差异体现在，要选定的单元如果不能放电或放电较弱时，在维持区间就可能会出现放电失败（低放电）；寻址放电时不应该放电的单元出现放电，则会在sustain区间发生连续放电误放电。目前的应对方法是根据不同的子场，设置不同的寻址波形，消除子场间寻址放电差异，但对于因单元状态差异导致的寻址放电状态偏差并没有很好的效果。

发明内容

本发明的目的，就是针对现有技术所存在的不足，而提供一种PDP模组局部低放电消除方法的技术方案，该方案能够通过调整每根扫描电极输出扫描脉冲宽度的大小，调整对应区域寻址放电的强弱，进一步调整寻址放电后壁电荷的量，使单元产生稳定正常的维持放电。

本方案是通过如下技术措施来实现的：一种PDP模组局部低放电消除方法：

a.针对任意区域的第一行寻址放电较弱的情况，增加该区域放电较弱单元第一行的Y电极输出扫描脉冲的宽度；

b.针对任意区域的寻址放电较弱的情况，增加该区域放电较弱单元对应行的Y电极输出扫描脉冲的宽度；

c.针对任意区域的维持期误放电的情况，减少该区域误放电单元对应行的Y电极输出的扫描脉冲的宽度。

作为本方案的优选：步骤a中，在不同的子场，增加的第一行Y电极输出扫描脉冲的宽度可不相同；步骤b中，在不同的子场，增加该区域放电较弱单元对应行的Y电极输出扫描脉冲的宽度可不相同；步骤c中，在不同的子场中，减少该区域误放电单元对应行的Y电极输出的扫描脉冲的宽度可不相同。

本方案的有益效果可根据对上述方案的叙述得知，由于在该方案中通过调整每根扫描电极输出扫描脉冲宽度的大小，调整对应区域寻址放电的强弱，进一步调整寻址放电后壁电荷的量能够使单元产生稳定正常的维持放电；该方法通过在一个子场内对不同放电状态区域对应的行施加不同宽度的扫描脉冲，针对性改善低放电或误放电不良，比以前使用的对每个子场设置不同扫描脉冲宽度的方法更有效的控制所有子场不同区域的放电状态差异。

由此可见，本发明与现有技术相比，具有突出的实质性特点和显著地进步，其实施的有益效果也是显而易见的。

附图说明

图1为本发明等离子显示器电极的结构示意图。

图2为驱动波形组成图。

图3为Y电极输出的扫描脉冲波形图。

具体实施方式

　　为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过一个具体实施方式，并结合其附图，对本方案进行阐述。

　　由于PDP寻址期按照扫描电极顺序进行放电，且相邻行之间存在空隙，寻址放电时，当前行产生的带电粒子可移动到下一行，使下一行的寻址放电增强（priming效应）。但第一行并不存在有带电粒子流入的情况，因此寻址放电较弱，壁电荷不足，导致维持期不能正常持续放电。这时，可将第一行扫描脉冲宽度设置为比其他行更宽，以产生足够的壁电荷，保证维持放电正常。另外，因PDP屏结构等偏差导致的其他部位的寻址放电较弱的情况，也可通过增加对应行的扫描脉冲宽度方法进行调整。

    当屏的部分区域存在着火电压较低的单元，寻址放电时，如果相邻单元放电流入的带电粒子较多，则可能造成不被选中的单元出现寻址放电，导致维持期出现误放电。这时，可将对应区域扫描脉冲设置为比其他行更窄，减少priming效应阻止误放电发生。