[发明专利]一种摄像头模组测试平台有效

专利信息
申请号: 201310037357.2 申请日: 2013-01-30
公开(公告)号: CN103064246A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 李茂兴;张粦钢;李建华 申请(专利权)人: 信利光电(汕尾)有限公司
主分类号: G03B43/00 分类号: G03B43/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 516600 广东省汕尾*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 摄像头 模组 测试 平台
【说明书】:

技术领域

发明属于光学器件测试领域,尤其涉及一种摄像头模组测试平台。

背景技术

摄像头模组在组装完成后,需要对其进行调焦及污点、暗角等相关性能的测试。现有的测试流程一般包括:远景调焦,污点、暗角测试和近景对焦。

其中,污点、暗角测试一般是使用手工盖白板测试,但是,由于手盖的高度每次不完全相同,所以摄像头模组测试环境的一致性较差。

而且,近景对焦的过程中,现有技术需要将正在测试中的摄像头模组移动到近景工站。因此,摄像头模组测试环境的一致性也会比较差。

由于摄像头模组测试环境的一致性较差,则摄像头模组的测试结果也不够可靠。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种摄像头模组测试平台,以保持摄像头模组测试环境的一致性,解决摄像头模组的测试结果不可靠的问题。

一种摄像头模组测试平台,包括:

底座,所述底座上设置有与所述底座表面平行的滑动轴;

第一支架,所述第一支架沿着所述滑动轴的轴向滑动设置;

近景标靶、污点测试板和中继镜,所述近景标靶、污点测试板和中继镜设置在所述第一支架上;

第二支架,所述第二支架设置在所述底座上,且所述第二支架上设置有远景标靶,所述远景标靶与底座表面的距离大于中继镜与底座表面的距离。

优选的,所述第一支架包括至少一个第一支撑柱。

优选的,所述第二支架包括至少一个第二支撑柱。

优选的,所述滑动轴上设置有定位磁铁。

优选的,所述近景标靶的中心、污点测试板的中心和中继镜的中心呈一条直线。

优选的,所述污点测试板为LED发光板或白色亚克力板或黑色亚克力板。

优选的,所述摄像头模组测试平台还包括:设置在所述第一支架上且垂直于所述底座表面的第一螺杆。

优选的,所述摄像头模组测试平台还包括:设置在所述第二支架上且垂直于所述底座表面的第二螺杆。

一种摄像头模组测试方法,包括:

将摄像头模组固定在底座上;

滑动第一支架,使中继镜位于远景标靶与所述摄像头模组之间,开始远景调焦测试;

滑动第一支架,使污点测试板固定在所述摄像头模组正上方,开始污点测试和暗角测试;

滑动第一支架,使近景标靶固定在所述摄像头模组正上方,开始近景对焦测试。

优选的,所述第一支架通过固定磁铁固定位置。

与现有技术相比,在利用上述摄像头模组测试平台测试摄像头模组的过程中,只需要水平切换近景标靶、污点测试板和中继镜,即可完成对所述摄像头模组的远景调焦测试、近景对焦测试、污点和暗角测试。在整个测试过程中,摄像头模组测试环境的一致性较好,提高了摄像头模组测试结果的可靠性。

此外,所述摄像头模组测试平台与摄像头模组测试过程中的每个动作相匹配,测试过程流畅,测试的效率较高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要将用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的一种摄像头模组测试平台结构示意图;

图2是本申请实施例提供的另一种摄像头模组测试平台结构示意图;

图3是本申请实施例提供的又一种摄像头模组测试平台结构示意图。

具体实施方式

实施例一:

本实施例公开了一种摄像头模组测试平台,包括:

底座,所述底座上设置有与所述底座表面平行的滑动轴。所述底座的表面平整,且优选为矩形,用于承载摄像头模组和摄像头模组测试平台的其他部件。所述滑动轴与所述底座的表面平行。

第一支架,所述第一支架沿着所述滑动轴的轴向滑动设置,即所述第一支架可以在所述滑动轴的轴向上自由滑动。所述第一支架包括至少一个第一支撑柱。

近景标靶、污点测试板和中继镜,所述近景标靶、污点测试板和中继镜设置在所述第一支架上。

第二支架,所述第二支架设置在所述底座上,且所述第二支架上设置有远景标靶,所述远景标靶与底座表面的距离大于中继镜与底座表面的距离。

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