[发明专利]一种基于微型格网的相机量测化参数去相关检校方法

权利要求书

1.一种基于微型格网的相机量测化参数去相关检校方法，其特征在于：该方法包括如下步骤：

步骤（1）计算像片透视变换系数；

步骤（2）计算控制直线参数；

步骤（3）利用直线约束计算畸变系数；

步骤（4）畸变系数稳定，则进行步骤（6），畸变系数不稳定，则进行步骤（5）对控制像点加畸变改正，重复步骤（1）-（4）；

步骤（6）解算x_o、y_o；

步骤（7）x_o、y_o稳定，则进行步骤（9），x_o、y_o不稳定，则进行步骤（8）对控制像点加畸变改正，重复步骤（1）-（7）；

步骤（9）解算主距f和外方位角元素。

2.据权利要求1所述的基于微型格网的相机量测化参数去相关检校方法，其特征在于：

所述步骤（1）中计算像片透视变换系数，首先拍摄微型网格影像，将相机沿着与格网面相垂直的方向上移动，在不同的拍摄距离下获取格网的影像，并精确量取拍摄的距离差值。

3.根据权利要求1所述的基于微型格网的相机量测化参数去相关检校方法，其特征在于：

所述步骤（2）计算控制直线参数中，对于物方空间格网直线，假设影响实际构像误差的因素为构像畸变，对直线上的任意点进行畸变改正，则同一直线约束条件为，

(x+x)·cosθ+(y+y)·sinθ-ρ＝0

则任意多条物方空间直线和像方直线的对应关系，平差解算相机构像的畸变系数，计算公式为，

∂F∂k1·dk1+∂F∂k2·dk2+∂F∂k3·dk3+∂F∂p1·dp1+∂F∂p2·dp2+F0=0---(1).]]>