[发明专利]有机薄膜场效应晶体管的制备方法在审
申请号: | 201310040862.2 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103972392A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 潘革波;肖燕 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | H01L51/40 | 分类号: | H01L51/40;H01L51/00 |
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地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有机 薄膜 场效应 晶体管 制备 方法 | ||
1.一种有机薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征在于,包括在衬底上制作有源层的工序,所述有源层是通过气体喷印工艺将有机半导体化合物喷印到接收层上形成的;
其中,所述气体喷印工艺的步骤包括:
S1、对有机半导体化合物进行加热使之升华成气雾;
S2、将所述气雾喷射到接收层上。
2.根据权利要求1所述的有机薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征在于:对有机半导体化合物进行加热的温度范围为200℃~600℃。
3.根据权利要求1所述的有机薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征在于:所述有机半导体化合物为稠环芳香族有机半导体化合物。
4.根据权利要求1所述的有机薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征在于:所述有机半导体化合物为并苯类、金属酞菁类、苝、苝酰亚胺衍生物、苝酐类,四氟基对苯鲲二甲烷金属类、富勒烯中的一种或两种以上的组合。
5.根据权利要求1所述的有机薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征在于:所述有机薄膜场效应晶体管为底栅-顶接触、底栅-底接触、顶栅-底接触、顶栅-顶接触的结构中的一种。
6.根据权利要求1所述的有机薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征在于:所述衬底的材质为玻璃、陶瓷、硅、塑料中的至少一种。
7.根据权利要求1所述的有机薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征在于:所述场效应晶体管包括源电极和漏电极,所述源电极和漏电极的材质为金、银、铜、PEDOT:PSS聚合物中至少一种。
8.根据权利要求8所述的有机薄膜场效应晶体管的制备方法,其特征在于:所述源电极和漏电极的制作方法是气溶胶印刷法、喷墨印刷法、磁控溅射、光刻或真空蒸镀沉积法之一。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择