[发明专利]一种利用三维光子晶体测量pH的方法有效
申请号: | 201310045620.2 | 申请日: | 2013-02-05 |
公开(公告)号: | CN103163082A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 赵九蓬;曲慧颖;李垚;祁生铭;潘磊 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 韩末洙 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 三维 光子 晶体 测量 ph 方法 | ||
1.一种利用三维光子晶体测量pH的方法,其特征在于利用三维光子晶体测量pH的方法按下列步骤实现:
一、向90~120mL超纯水中通氮气,加热至65~95℃,恒温25~45min后加入甲基丙烯酸和苯乙烯,然后通过NaOH溶液调节反应体系pH至9~12,加入0.184~0.334g的过硫酸钾,搅拌均匀,在55~75℃的温度下反应2~3小时,得到微球溶液;二、微球溶液中加入超纯水调节微球溶液的体积分数至0.1%~0.3%,放入恒温箱内,以50~70℃的温度沉积4~6天得到光子晶体薄膜;三、将步骤二得到的光子晶体薄膜放入不同pH值的溶液中,使用光谱仪依次测光子晶体薄膜在不同pH值溶液中的反射光谱曲线,然后拟合溶液pH值与光子晶体薄膜反射光波峰处波长的关系曲线;四、然后将步骤三中的光子晶体薄膜放入待测溶液中,使用光谱仪测待测溶液中光子晶体薄膜的反射光谱曲线,进而推得待测溶液的pH值;
其中步骤一中的甲基丙烯酸和苯乙烯的质量比是(3.6~6.6):1。
2.根据权利要求1所述的一种利用三维光子晶体测量pH的方法,其特征在于步骤一搅拌速度为150r/min。
3.根据权利要求1或2所述的一种利用三维光子晶体测量pH的方法,其特征在于步骤一在60~70℃的温度下反应2~3小时。
4.根据权利要求1或2所述的一种利用三维光子晶体测量pH的方法,其特征在于步骤一在65℃的温度下反应2.5小时。
5.根据权利要求1所述的一种利用三维光子晶体测量pH的方法,其特征在于步骤二放入恒温箱内,以60℃的温度沉积5天。
6.根据权利要求1所述的一种利用三维光子晶体测量pH的方法,其特征在于步骤三光子晶体薄膜放入5~35组不同pH值的溶液中,使用光谱仪依次测光子晶体薄膜在5~35组不同pH值溶液中的反射光谱曲线。
7.根据权利要求1所述的一种利用三维光子晶体测量pH的方法,其特征在于步骤三光子晶体薄膜依次放入pH=1,pH=2,pH=3,pH=4,pH=5,pH=6,pH=7,pH=8,pH=9,pH=10,pH=11,pH=12,pH=13,pH=14的14组溶液中,使用光谱仪依次测光子晶体薄膜在14组不同pH值溶液中的反射光谱曲线。
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