[发明专利]带开关的同轴连接器

说明书

技术领域

本发明涉及具有通过嵌合配对连接器而成为分离状态的一对触头的带开关的同轴连接器。

背景技术

通常，手机等之类的电子设备或电气设备使用了带开关的同轴连接器。该带开关的同轴连接器例如作为用于对设置在设备内的高频电路等各种电子电路的状态和性能进行检测的小型电路检测开关等使用。下述的专利文献1及2等公开的电路检测开关由以截断设备主体的电子电路的方式被安装在电路基板上的带开关的同轴连接器构成，作为配对连接器的检测用插头连接器的探针（检测针）穿过设置在该带开关的同轴连接器上的配对插入孔，从上方侧插入内部。

在这样的带开关的同轴连接器中，在绝缘外壳的外侧安装有接地用的导电性壳，从该导电性壳一体地突出的多个基板连接部通过钎焊接合在省略图示的布线基板上的导电电路上进行安装并被使用。在此时的所述绝缘外壳的内部，安装有由信号传送用的可动触头和固定触头构成的触头对，这一对可动触头及固定触头分别连接在设置于设备主体的电子电路（省略图示）的一侧及另一侧。

而且，从上方侧插入到了该带开关的同轴连接器中的检测用插头连接器的探针（检测针）的前端部分，以挤开在大致水平面内摆动的所述可动触头的自由端部分的方式进行压接，由此，可动触头摆动并从固定触头分离，原来的电子电路被截断。另外，与此同时，可动触头与探针的下端部分接触，由此，探针与设备主体的其他电子电路成为导通状态，通过该探针，来自电子电路的电信号被导出到外部，从而执行例如适当的检测。

但是，在这样的以往的带开关的同轴连接器中，在检测用插头连接器的探针（检测针）被插入时，尤其是在反复被插入的情况下，触头有可能产生塑性（永久）变形，有时在电连接性方面出问题。为防止这样的塑性变形，也考虑到使触头的跨度增长来提高弹性的手段，但仅增长触头会导致连接器整体大型化，有悖于近年来的小型化和薄型化的要求。另外，还存在如下问题：使用环境中存在的微小杂物和绝缘物等尘埃通过检测用插头连接器的探针（检测针）的插入孔侵入内部而有可能产生电连接不良。

专利文献1：日本特开平09-245907号公报

专利文献2：日本特开2002-359039号公报

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种带开关的同轴连接器，能够以简易的结构避免大型化的同时良好地防止触头的塑性变形，并且能够良好地防止因侵入内部的尘埃而导致产生电连接不良。

为实现上述目的，在本发明的带开关的同轴连接器中，相互相对地安装在绝缘外壳上的一对触头的端部彼此接触地配置，根据穿过设置在所述绝缘外壳上的插入孔而被插入的配对连接器的抵接推压力，所述一对触头中的一个触头沿所述抵接推压方向移动并从另一个触头分离，所述一个触头具有：卡定在所述绝缘外壳上的固定基部和从该固定基部呈悬臂状地一体地伸出的弹性梁状部件，所述带开关的同轴连接器的特征在于，在所述一个触头的弹性梁状部件上弯折形成有弯折状延伸部，该弯折状延伸部从该弹性梁状部件的基础部分即与所述固定基部连结的连结部分呈弯曲形状地伸出，并且在该弹性梁状部件上，在包括所述弯折状延伸部的至少一部分在内的区域形成有通孔。

根据具有如上所述的结构的带开关的同轴连接器，该弹性梁状部件的路径与设置在弹性梁状部件上的弯折状延伸部的弯曲形状相应地延长，实质上扩大了跨度长度，从而能够充分地确保触头的弹性并防止触头产生塑性变形。另外，由于在弹性梁状部件的弹性位移的基础部分设置有弯折状延伸部，所以在弹性梁状部件的基础部分欲产生的弹性位移的应力集中沿弯折状延伸部被扩散，触头整体的应力分布更均匀地被改善。

此时，由于在弯折状延伸部的至少一部分形成有通孔，所以应力集中的扩散能够更好地进行，由此，也能够防止触头产生塑性变形，并且从机外侵入到了内部的尘埃通过通孔落下，从而能够良好地确保电气导通性。

另外，在本发明中，优选的是，所述触头以被收纳在形成于所述绝缘外壳的触头插入通路内部的方式被安装，所述弯折状延伸部中的弯曲形状的顶部以与所述触头插入通路的内壁面接近或接触的方式配置。

根据由这种结构构成的带开关的同轴连接器，由于触头插入通路的内壁面和触头之间的间隙因弯折状延伸部的弯曲顶部而变窄，所以欲通过触头插入通路侵入的杂物等尘埃被弯折状延伸部挡住，从而能够良好地维持接点部的功能。

另外，在本发明中，优选的是，所述通孔形成为从所述弯折状延伸部中的弯曲形状的顶部沿所述弹性梁状部件的长度方向伸出的长孔形状。