[发明专利]TDLAS温度校准系统有效
| 申请号： | 201310048162.8 | 申请日： | 2013-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN103175634A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 贾军伟;张书锋;金光远;柴昊;杨力;刘展;张明志 | 申请（专利权）人： | 北京东方计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人： | 吴小灿 |
| 地址： | 100086 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | tdlas 温度 校准 系统 | ||
1.TDLAS温度校准系统，其特征在于，包括标准传感器温度测量系统和被校准的在真空环境下测量气体温度的TDLAS温度测量系统，所述TDLAS温度测量系统中的光学系统位于恒温槽中，所述光学系统的壳体与所述恒温槽周壁之间具有恒温液，所述标准传感器温度测量系统中的标准传感器位于所述恒温液内。
2.根据权利要求1所述的TDLAS温度校准系统，其特征在于，所述标准传感器采用一等标准铂电阻温度计，所述一等标准铂电阻温度计连接温度显示仪表。
3.根据权利要求1所述的TDLAS温度校准系统，其特征在于，所述光学系统包括光学透镜组，所述光学透镜组的上端连接激光系统，所述光学透镜组的下端通过接收光纤连接数据处理系统。
4.根据权利要求1所述的TDLAS温度校准系统，其特征在于，所述光学系统附设有接收光纤通道。
5.根据权利要求1所述的TDLAS温度校准系统，其特征在于，所述光学系统通过抽气管路连接真空抽气系统。
6.根据权利要求1所述的TDLAS温度校准系统，其特征在于，所述光学系统通过供气管路连接待测气体供气系统。
7.根据权利要求6所述的TDLAS温度校准系统，其特征在于，所述待测气体采用C2H2气体。
8.根据权利要求6所述的TDLAS温度校准系统，其特征在于，所述待测气体供气系统包括混气罐，所述混气罐通过第一截止阀管路连接气体罐，并通过第二截止阀管路连接机械泵。
9.根据权利要求3所述的TDLAS温度校准系统，其特征在于，所述数据处理系统包括与所述接收光纤连接的锁相放大器，所述锁相放大器连接数据采集系统，所述数据采集系统连接数据分析系统，所述数据分析系统连接数据显示系统。
10.根据权利要求9所述的TDLAS温度校准系统，其特征在于，所述激光系统包括激光器，所述激光器连接激光控制单元，所述激光控制单元连接信号调制单元，所述信号调制单元连接信号发生器，所述信号调制单元连接所述锁相放大器。
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