[发明专利]正比计数器清洗装置及清洗方法

说明书

技术领域：

本发明涉及仪器内部清洗技术，具体适用于流气式和封闭式正比计数器的清洗装置及清洗方法。

背景技术：

正比计数器是以某种气体在X射线照射下产生电离而形成电脉冲为依据的核辐射探测器，由于它寿命长、体积小并可在常温下工作且有较好的能量分辨率，是波长色散XRF谱仪必备的探测器。在能量色散XRF谱仪中仍有广泛应用。

在X荧光光谱仪中，探测器的好坏对最终测量结果影响极大。而影响探测器性能的因素又主要有以下几方面：

1、探测器本身的气体密度和纯度变化；

2、探测器被污染，如探测器内部灰尘，染上油污等；

3、探测器内部金属丝张力下降。

所有这些因素都会使探测器变得“迟钝”，分辨率和计数率发生变化，不能满足用户使用；需要更换新的探测器，增加相应成本。

常用的正比计数器一般分为流气式和封闭式，对于计数器内部要求清洁度比较高，用户一般不能自行拆卸安装，厂家也采用一次性灌封焊接。对于性能下降的计数器只能更换，没有清洗的方法，因此正比计数器价格比较昂贵。

发明内容：

鉴于现有计数器不能拆卸清洗的问题，本发明目的在于提供一种全新的适用于流气式、封闭式正比计数器的清洗装置及清洗方法。本发明能在不更换计数器的前提下对计数器进行清洗以延长其使用寿命。

本发明所采取的技术方案是：一种正比计数器清洗装置，它包括一微控制器，所述微控制器与一通断控制器以及电源、指示灯、蜂鸣器相连，所述微控制器与电源之间有电源开关控制，所述通断控制器的正、负极上分别引接出一接线，所述正极接线与正比计数器的探测丝的负极相连，所述负极接线与正比计数器的探测丝的正极相连。

所述微控制器采用PIC8位型号的控制芯片。

所述微控制器里面还有电源调理芯片和计时器。

所述通断控制器采用微型的双刀双掷继电器。

所述指示灯有两个，一个是电源指示灯，另外一个工作指示灯。

一种正比计数器清洗装置的清洗方法，使用前述清洗装置，包括如下步骤：

1）装置连接：将清洗装置的两根接线与正比计数器的探测丝连接，清洗装置的正极接探测丝的负极，清洗装置的负极接探测丝的正极；

2）打开电源开关，通过通断控制器给计数器施加2v左右的电压，微控制器自动检测探测器和清洗装置是否连接好，如果发现通断控制器未导通，说明正比计数器不能正常工作，微控制器不会传指令给通断控制器工作；如果通断控制器导通，说明连接正常，可以进行清洗工作；

3）连接正常的情况下，清洗装置在3秒钟后开始清洗，同时蜂鸣器鸣响提醒，在预设时间内完成清洗。

所述一次清洗的时间设定为2秒钟。

微控制器默认一次清洗完成，在不断开正比计数器和清洗装置电连接的情况下，则每隔30秒重复清洗一次。

本发明清洗方式为物理方式，不改变被清洗物其物理属性，旨在通过这种方式使其表面附着的脏物脱落。本发明清洗装置体积小、重量轻、便携性好，本发明清洗方法新颖独特，实用性强，操作简易，每一个仪器使用人员都能很容易的学会操作。利用本发明清洗方法和装置，能方便的延长探测器使用寿命，避免了频繁更换探测器，降低了X荧光光谱使用成本。

附图说明：

图1为正比计数器清洗装置构成图；

图2为正比计数器清洗装置工作连接图；

图3为清洗前后正比计数器的计数变化曲线图。

具体实施方式：

下面结合附图具体说明本发明的清洗方法和应用装置。

本发明提供一种全新的正比计数器清洗装置及清洗方法，它是采用电热法清洗，其清洗原理是：利用探测器内探测丝具有一定的阻值，当有电流通过时，由电功率公式P=I²R可知，探测器会产生热效应致使探测丝发热。本发明研究表明，探测丝发热会将附着在探测丝上的细小尘埃烧结剥落，从而使剥落的尘埃随着流动的工作气体排到外界；油污在加热情况下会蒸发，也会随着流动的工作气体排到外界，以此达到清洗正比计数器内部尘土、油污的目的。

因此，本发明借助于一清洗装置，给计数器通电加热，通过控制通电时间和频率达到不同的清洗效果。