[发明专利]一种用于变形观测仪器的观测方法有效

专利信息
申请号: 201310049355.5 申请日: 2013-02-07
公开(公告)号: CN103148843A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 许正文;郭春生;袁钊;侯敬宗;付和宽 申请(专利权)人: 上海岩土工程勘察设计研究院有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00
代理公司: 上海申蒙商标专利代理有限公司 31214 代理人: 徐小蓉
地址: 200032 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 变形 观测 仪器 方法
【权利要求书】:

1.一种用于变形观测仪器的观测方法,涉及变形观测仪器、若干观测点,所述若干观测点上分别设有照准标志,所述若干照准标志处于同一水平面上,其特征在于:所述方法至少包括以下步骤:

在所述照准标志上设置位移机构,将若干所述照准标志设置为同一面朝向所述变形观测仪器;

通过所述位移机构的驱动,被观测点上的所述照准标志进行相对位移,使得被观测点上的照准标志与其余照准标志位置不同;

当位移机构停止驱动后,通过所述照准标志对所述被观测点进行观测。

2.根据权利要求1所述的一种用于变形观测仪器的观测方法,其特征在于:所述照准标志都为正面朝向所述变形观测仪器,所述位移机构对被观测点上的所述照准标志进行顶推,使其高于或侧面突显于其余的照准标志。

3.根据权利要求1所述的一种用于变形观测仪器的观测方法,其特征在于:所述照准标志都为背面朝向所述变形观测仪器,所述位移机构对被观测点上的所述照准标志进行旋转,使该照准标志正面朝向所述变形观测仪器。

4.根据权利要求1所述的一种用于变形观测仪器的观测方法,其特征在于:所述照准标志都为背面朝向所述变形观测仪器,所述位移机构对被观测点上的所述照准标志进行旋转和顶推,使该照准标志正面朝向所述变形观测仪器并且高于或侧面突显于其余照准标志。

5.根据权利要求1所述的一种用于变形观测仪器的观测方法,其特征在于:所述若干照准标志上的所述位移机构都通过PLC控制器连接控制。

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