[发明专利]振荡电路、集成电路及异常检测方法有效
申请号: | 201310052005.4 | 申请日: | 2013-02-17 |
公开(公告)号: | CN103293463B | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 吉村胜利;井上和俊 | 申请(专利权)人: | 拉碧斯半导体株式会社 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 李洋,舒艳君 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 振荡 电路 集成电路 异常 检测 方法 | ||
1.一种振荡电路,其特征在于,具备:
主振荡电路,其向内部电路输出规定的主时钟;
子振荡电路,其输出与所述主时钟的频率不同的频率的子时钟;
第1异常检测单元包括:
下限值寄存器(40),其存储所述主振荡电路的主时钟的时钟个数的下限值;
上限值寄存器(44),其存储所述主振荡电路的主时钟的时钟个数的上限值;
上升沿检测电路(34);计数器(32);第一寄存器(36);第1比较器(42)以及第2比较器(38),
其中,
所述上升沿检测电路(34)的输入端连接于所述子振荡电路,输出端连接于计数器,通过所述主振荡电路的主时钟对所述子振荡电路的子时钟的上升沿进行采样并检测,
所述计数器(32)根据从所述上升沿检测电路输入的信号,对从主振荡电路输入的主时钟进行计数,并将计数值输出至所述第一寄存器以及所述第1比较器(42),
所述第一寄存器(36)将从所述上升沿检测电路输入的信号的下降沿作为时钟,获取所述计数器的输出并输出至所述第2比较器;
所述第1比较器(42)对所述计数器输出的计数值和存储于所述上限值寄存器的上限值进行比较,在超过上限值的情况下,从该第1比较器输出表示子时钟异常的信号;
所述第2比较器(38)对所述计数器输出的计数值和存储于所述下限值寄存器的下限值进行比较,在比下限值小的情况下,从该第2比较器输出表示主时钟异常的信号;
第2异常检测单元包括:
分频器(52),对从所述主振荡电路输出的主时钟进行分频来得到分频 时钟;
移位寄存器(54),在与所述子时钟对应的定时获取所述分频时钟并输出输出值;
振荡确认电路(56),在所述移位寄存器(54)的输出值的各位为全部相同的值的情况下,输出表示主时钟异常的信号。
2.根据权利要求1所述的振荡电路,其特征在于,
所述第1异常检测单元作为异常检测出所述主振荡电路以及所述子振荡电路的振荡频率的异常、以及所述子振荡电路的振荡停止。
3.根据权利要求1所述的振荡电路,其特征在于,
所述第2异常检测单元作为异常检测出所述主振荡电路的振荡停止。
4.一种集成电路,其特征在于,具备:
具有检测自身的异常的功能的所述权利要求1所述的振荡电路;以及
根据从所述振荡电路所具备的主振荡电路输出的主时钟而进行动作的内部电路。
5.一种异常检测方法,其特征在于,
针对具备向内部电路输出规定的主时钟的主振荡电路和输出与所述主时钟的频率不同的频率的子时钟的子振荡电路的振荡电路,具备第1异常检测工序和第2异常检测工序,其中,
在第1异常检测工序中,
利用下限值寄存器(40)存储所述主振荡电路的主时钟的时钟个数的下限值;利用上限值寄存器(44)存储所述主振荡电路的主时钟的时钟个数的上限值;利用上升沿检测电路(34)的输入端连接于所述子振荡电路且输出端连接于计数器,并通过所述主振荡电路的主时钟对所述子振荡电路的子时钟的上升沿进行采样并检测,利用计数器(32)根据从所述上升沿检测电路输入的信号,对从主振荡电路输入的主时钟进行计数,并将计数值输出至第一寄存器(36)以及第1比较器(42),利用所述第一寄存器(36)将从所述上升沿检测电路输入的信号的下降沿作为时钟,获取所述计数器的输出并输出至第2比较器(38);通过所述第1比较器(42)对所述计数器输出的计数值和存储于所述上限值寄存器的上限值进行比较,在超过上限值的情况下,从该第1比较器输出表示子时钟异常的信号;通过所述第2比较器(38)对所述计数器输出的计数值和存储于所述下限值寄存器的下限值进行比较,在比下限值小的情况下,从该第2比较器输出表示主时钟异常的信号;
在第2异常检测工序中,
利用分频器(52)对从所述主振荡电路输出的主时钟进行分频来得到分频 时钟;利用移位寄存器(54)在与所述子时钟对应的定时获取所述分频时钟并输出输出值;利用振荡确认电路(56)在所述移位寄存器(54)的输出值的各位为全部相同的值的情况下,输出表示主时钟异常的信号。
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