[发明专利]电子设备和绘制方法

权利要求书

1.一种电子设备，其特征在于，包含：

被配置为能够检测第一接触的位置和第二接触的位置的显示器，在所述第一接触的位置中，与物体的接触面积等于或者小于第一阈值，在所述第二接触的位置中，与物体的接触面积等于或者大于第二阈值，所述第二阈值等于或者大于所述第一阈值；

校正部，被配置为校正感测到所述第一接触的位置；以及

绘制模块，被配置为绘制由所述校正模块校正的位置的轨迹、和所述第一接触的所述位置的轨迹中的至少一个，

其中，所述校正部被配置为，通过使用是否感测到所述第二接触、以及所述第一接触和所述第二接触之间的位置关系中的至少一个，来校正感测到所述第一接触的所述位置。

2.如权利要求1所述的设备，其特征在于，

所述校正部被配置为，通过使用所述第一接触的所述位置和所述第二接触的所述位置之间的距离，来确定感测到所述第一接触的所述位置的校正量。

3.如权利要求1所述的设备，其特征在于，

第一校正量小于第二校正量，其中，如果没有感测到所述第二接触，那么所述校正部使用所述第一校正量来校正感测到所述第一接触的所述位置，如果感测到所述第二接触，那么所述校正部使用所述第二校正量来校正感测到所述第一接触的所述位置。

4.如权利要求1所述的设备，其特征在于，

所述绘制模块被配置为，在所述显示器的显示屏上显示由多条线形成的图形，以及

所述校正部被配置为，如果在所述显示器上显示的所述图形上感测到所述第一接触，那么校正感测到所述第一接触的所述位置。

5.如权利要求1所述的设备，其特征在于，

所述显示器包括第一传感器和第二传感器，

所述第一接触由所述第一传感器感测，以及

所述第二接触由所述第二传感器感测。

6.如权利要求5所述的设备，其特征在于，

所述第二传感器能够感测所述第一接触和所述第二接触两者，以及

所述校正部被配置为，通过使用由所述第一传感器感测的所述第一接触的所述位置和由所述第二传感器感测的所述第二接触的所述位置，来校正感测到所述第一接触的所述位置。

7.一种电子设备的绘制方法，其特征在于，所述电子设备包含能够检测第一接触的位置和第二接触的位置的显示器，在所述第一接触的位置中，与物体的接触面积等于或者小于第一阈值，在所述第二接触的位置中，与物体的接触面积等于或者大于第二阈值，所述第二阈值等于或者大于所述第一阈值，所述方法包括：

校正感测到所述第一接触的位置；以及

绘制通过由所述校正进行的校正获得的位置的轨迹、和所述第一接触的所述位置的轨迹中的至少一个，

其中，所述校正包括，通过使用是否感测到所述第二接触的所述位置、以及所述第一接触和所述第二接触之间的位置关系中的至少一个，来校正感测到所述第一接触的所述位置，在所述第二接触的所述位置中，所述显示器和所述物体之间的接触面积等于或者大于所述第二阈值。