[发明专利]配光特性测量装置和配光特性测量方法有效

专利信息
申请号: 201310058976.X 申请日: 2013-02-25
公开(公告)号: CN103364177B 公开(公告)日: 2017-03-01
发明(设计)人: 江南世志 申请(专利权)人: 大塚电子株式会社
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 特性 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种配光特性测量装置,用于测量光源的配光特性,

具备以具有规定的相对关系的方式配置的多个检测器,一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复,

该配光特性测量装置还具备:

驱动单元,其将上述多个检测器作为一体来进行驱动,由此更新上述多个检测器相对于上述光源的位置关系;以及

计算单元,其根据上述多个检测器在相同时刻获取到的各个检测结果,进行与上述多个检测器的相对关系和检测范围的重复中的至少一方相应的处理,计算上述光源的配光特性。

2.根据权利要求1所述的配光特性测量装置,其特征在于,

上述多个检测器配置成各自的光轴方向相互平行并且各自的检测范围的一部分与其它检测器的检测范围重复。

3.根据权利要求2所述的配光特性测量装置,其特征在于,

上述计算单元对于重复的检测范围仅使对应的多个检测器计算出的各个结果中的一个检测器计算出的结果有效化。

4.根据权利要求1所述的配光特性测量装置,其特征在于,

上述多个检测器配置成各自的光轴方向朝向预先决定的基准点并且各个检测范围实质上一致。

5.根据权利要求4所述的配光特性测量装置,其特征在于,

上述计算单元将第一检测器在某一时刻获取到的第一检测结果与上述第一检测器的位置信息相关联地保存,并且将第二检测器在该时刻获取到的第二检测结果与根据第一检测器和第二检测器之间的相对关系对上述第一检测器的位置信息进行校正而得到的位置信息相关联地保存。

6.根据权利要求1~5中的任一项所述的配光特性测量装置,其特征在于,

上述计算单元对检测器的检测范围所包含的多个测量点中的各个测量点计算配光特性。

7.根据权利要求1~5中的任一项所述的配光特性测量装置,其特征在于,

上述驱动单元在不同的两个轴方向上分别独立地变更上述光源与上述多个检测器之间的位置关系。

8.一种配光特性测量方法,用于测量光源的配光特性,具备以下步骤:

配置步骤,将多个检测器以具有规定的相对关系的方式进行配置,并且以使一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复的方式进行配置;

更新步骤,将上述多个检测器作为一体来进行驱动,由此更新上述多个检测器相对于上述光源的位置关系;以及

计算步骤,根据上述多个检测器在同一时刻获取到的各个检测结果,进行与上述多个检测器的相对关系和检测范围的重复中的至少一方相应的处理,计算上述光源的配光特性。

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