[发明专利]一种芯片及测试该芯片的方法有效

专利信息
申请号: 201310060228.5 申请日: 2013-02-26
公开(公告)号: CN103106172A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 边慧;付家喜;邰连梁;胡盛泉;任殿升;陈峰;储超群;刘清卫;李广仁;谢长倩 申请(专利权)人: 龙迅半导体科技(合肥)有限公司
主分类号: G06F13/40 分类号: G06F13/40;G01R31/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 230601 安徽省合肥市经*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种芯片,其特征在于,所述芯片包括:

第一接收装置,用于通过所述芯片上的第一引脚和第二引脚从所述芯片外部接收第一信号,并转发该第一信号;

第二发送装置,用于接收所述第一接收装置发送的第一信号,将该第一信号转换成第二信号,并通过所述芯片上的第三引脚和第四引脚将该第二信号发送至所述芯片外部;

第二接收装置,用于通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚从所述芯片外部接收第三信号,并将该第三信号转发;

第一发送装置,用于接收所述第二接收装置发送的第三信号、将第三信号转换成第四信号,并通过所述芯片上的所述第一引脚和第二引脚将该第四信号发送至所述芯片外部。

2.根据权利要求1所述的芯片,其特征在于,所述芯片还包括第一时钟数据恢复装置、第一先进先出缓冲装置、第二时钟数据恢复装置、第二先进先出缓冲装置;其中,

所述第一时钟数据恢复装置用于接收所述第一接收装置发送的所述第一信号、采样所述第一信号并对该第一信号进行格式转换成第五信号,同时从所述第一信号中恢复出其携带的第一时钟,并将所述第五信号和所述第一时钟一同发送至所述第一先进先出缓冲装置,其中所述第五信号处于第一时钟域;

所述第一先进先出缓冲装置用于根据所述第一时钟将接收到的处于所述第一时钟域的所述第五信号同步到所述芯片的本地时钟域从而获得第六信号、并将处于所述本地时钟域的所述第六信号转发至所述第二发送装置;

所述第二发送装置用于接收所述第一先进先出缓冲装置发送的处于所述本地时钟域的所述第六信号、对处于所述本地时钟域的所述第六信号进行格式转换成所述第二信号,并通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚将所述第二信号发送至所述芯片外部;

所述第二时钟数据恢复装置用于接收所述第二接收装置发送的所述第三信号、采样所述第三信号并对所述第三信号进行格式转换成第七信号,同时从所述第三信号中恢复出其携带的第二时钟,并将所述第七信号和所述第二时钟一同发送至所述第二先进先出缓冲装置,其中所述第七信号处于第二时钟域;

所述第二先进先出缓冲装置用于根据所述第二时钟将接收到的处于所述第二时钟域的所述第七信号同步到所述芯片的本地时钟域从而获得第八信号、并将处于所述本地时钟域的所述第八信号转发至所述第一发送装置;

所述第一发送装置用于接收所述第二先进先出缓冲装置发送的处于所述本地时钟域的所述第八信号、对处于所述本地时钟域的所述第八信号进行格式转换成所述第四信号,并通过所述芯片上的所述第一引脚和所述第二引脚将所述第四信号发送至所述芯片外部。

3.根据权利要求2所述的芯片,其特征在于,所述芯片还包括:

第一装置断开检测器件,用于检测与所述芯片的第一引脚和第二引脚连接的器件是否断开;

第一装置断开检测控制器件,用于控制所述第一装置断开检测器件;

第二装置断开检测器件,用于检测与所述芯片的第三引脚和第四引脚连接的器件是否断开;

第二装置断开检测控制器件,用于控制所述第二装置断开检测器件。

4.一种测试如权利要求1所述的芯片的方法,所述芯片还包括测试装置,其特征在于,所述方法包括:

所述第一发送装置接收所述测试装置发送的第一测试信号,将所述第一测试信号转换成第二测试信号,并通过所述芯片上的第一引脚和第二引脚将所述第二测试信号发送到所述芯片外部;

所述第一接收装置通过所述芯片上的所述第一引脚和第二引脚接收所述第二测试信号,并将所述第二测试信号转发至所述第二发送装置;

所述第二发送装置接收所述第二测试信号,将所述第二测试信号转换成第三测试信号,并通过所述芯片上的第三引脚和第四引脚将所述第三测试信号发送到所述芯片外部;

所述第二接收装置通过所述芯片上的所述第三引脚和第四引脚接收所述第三测试信号,并将所述第三测试信号返回至所述测试装置;

所述测试装置比较所述第三测试信号与所述第一测试信号是否一致,如果是,则所述芯片功能和性能正确。

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