[发明专利]基于鉴别线性表示的模式分类方法有效
申请号: | 201310060437.X | 申请日: | 2013-02-26 |
公开(公告)号: | CN103226710A | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 刘茜;王丽娜;马杰良 | 申请(专利权)人: | 南京信息工程大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 许方 |
地址: | 210044 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 鉴别 线性 表示 模式 分类 方法 | ||
技术领域
本发明公开了基于鉴别线性表示的模式分类方法,属于模式识别的技术领域。
背景技术
SRC(Sparse Representation-based Classification,稀疏表示分类器),以全部样本作为字典,稀疏表示测试样本与训练样本的关系。相对于传统的最近邻分类器来说,SRC分类器取得了较好的分类性能。但是,SRC分类器最大的问题就是,计算稀疏系数的时间复杂度很高,随着训练样本个数的增长,计算时间呈指数阶增长。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是针对上述背景技术的不足,提供了基于鉴别线性表示的模式分类方法。
本发明为实现上述发明目的采用如下技术方案:
基于鉴别线性表示的模式分类方法,利用包括c个类别的训练样本集识别测试样本y所属的类别,所述c为自然数,包括如下步骤:
步骤1,将训练样本集按照样本类别划分为c个子训练样本集;
步骤2,计算测试样本y在各子训练样本集内的线性表示系数;
步骤3,计算测试样本y在每一个子训练样本集内的重构误差;
步骤4,比较测试样本y在各个子训练样本集内的重构误差:当测试样本y在第M类子训练样本集内的重构误差最小时,将测试样本y归为第M类,所述M为小于或者等于c的自然数。
本发明采用上述技术方案,具有以下有益效果:确定测试样本在每一类子样本集中的线性表示系数,通过减少训练样本数目,降低了计算难度;在提高识别率的同时缩减了计算时间。
具体实施方式
下面对发明的技术方案进行详细说明:
利用包含c个类别的训练样本集X识别测试样本y所属的类别,包括如下步骤。
X=[X1,X2,...,Xc],表示第i类训练样本集,Xi包含Ni个样本,xij∈Rd(Rd表示d维的实向量集合)表示第i类的第j个训练样本,y∈Rd,c为自然数,Ni为自然数。
步骤1,将训练样本集按照样本类别划分为c个子训练样本集。
步骤2,计算测试样本y在各子训练样本集内的线性表示系数:对第i类子训练样本集Xi利用表达式确定测试样本y在第i类子训练样本集Xi内的线性表示系数
步骤3,计算测试样本y在第i类子训练样本集Xi内的重构误差ri(y)=||y-Xiβi||2(i=1,2,…,c)。
步骤4,比较测试样本y在各个子训练样本集内的重构误差:当测试样本y在第M类子训练样本集内的重构误差最小时,将测试样本y归为第M类,所述M为小于或者等于c的自然数。
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