[发明专利]用于抗辐射CMOS图像传感器的有源像素结构有效
申请号: | 201310062297.X | 申请日: | 2013-02-27 |
公开(公告)号: | CN103152531A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 高静;杨玉红;徐江涛;姚素英;史再峰 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374;H01L27/146 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 杜文茹 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 辐射 cmos 图像传感器 有源 像素 结构 | ||
1.一种用于抗辐射CMOS图像传感器的有源像素结构,包括有光电二极管PD、复位管M11、晶体管M12和选通管M13,其特征在于,还设置有补偿管M14和电流源I,其中,所述的补偿管M14的栅极连接补偿信号,复位管M11的栅极连接复位信号,选通管M13的栅极连接选通信号,补偿管M14的源极、复位管M11的漏极和晶体管M12的漏极均连接电源VDD,补偿管M14的漏极、复位管M11的源极、晶体管M12的栅极和光电二极管PD的N极连在一起,晶体管M12的源极连接选通管M13的漏极,选通管M13的源极连接电流源I的输入端,电流源I的输出端接地,所述的光电二极管PD的P端接地。
2.根据权利要求1所述的用于抗辐射CMOS图像传感器的有源像素结构,其特征在于,所述的晶体管M13的源极为输出信号端。
3.根据权利要求1所述的用于抗辐射CMOS图像传感器的有源像素结构,其特征在于,所述的补偿信号是由补偿信号产生电路产生,所述的补偿信号产生电路包括有N个晶体管M1~MN、N个光电二极管PD1~PDN和一个缓冲器F,其中,每一个晶体管的漏极对应连接一个光电二极管的N极,所述的N个晶体管M1~MN的源极均连接电源VDD,N个晶体管M1~MN的栅极和漏极连接在一起,并与所述的N个光电二极管PD1~PDN的N极一起连接缓冲器F的输入端,所述的N个光电二极管PD1~PDN的P极均接地,缓冲器F的输出端连接有源像素结构的补偿管M14的栅极,来为其提供电流偏置。
4.根据权利要求1所述的用于抗辐射CMOS图像传感器的有源像素结构,其特征在于,所述的N个晶体管M1~MN是P型MOS晶体管。
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