[发明专利]用于自动故障检测的方法和装置有效
申请号: | 201310063900.6 | 申请日: | 2013-02-26 |
公开(公告)号: | CN103294048B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | B·B·佩德森 | 申请(专利权)人: | 阿尔特拉公司 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 自动 故障 检测 方法 装置 | ||
1.一种集成电路器件,包括:
控制逻辑,其可操作以向所述集成电路器件上所包括的信号树上发送信号;
用户逻辑,其可操作以在所述集成电路器件上实施用户设计;以及
所述集成电路器件上的故障检测电路,其可操作以对所述信号树上的多个叶子处的多个信号值进行监视,其中所述故障检测电路可操作以响应于确定所述多个信号值中的第一信号值从预期信号值偏离而生成具有第一值的故障检测信号,并且其中所述控制逻辑在接收到具有所述第一值的所述故障检测信号时实施故障处理程序。
2.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中所述故障处理程序包括复位所述集成电路器件。
3.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中所述故障处理程序包括删除加密密钥。
4.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中所述信号是测试使能信号。
5.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中所述信号是地址和数据配置信号。
6.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中所述预期信号值保存在熔断器或配置随机访问存储器中。
7.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中所述预期信号值是变量并且由所述控制逻辑提供。
8.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中所述预期信号值是变量并且由所述用户逻辑提供。
9.根据权利要求1所述的集成电路器件,其中所述故障检测电路包括OR门的菊花链。
10.根据权利要求9所述的集成电路器件,其中所述故障检测电路包括多个传感器的层。
11.一种用于自动故障检测的方法,包括:
对对应于集成电路器件上的多个信号树的多个信号进行监视;
在所述集成电路器件上所包括的故障检测电路处确定第一信号是否从预期值偏离;
响应于从所述预期值偏离的所述第一信号的值生成具有第一值的故障检测信号否则生成具有第二值的故障检测信号;
确定所述故障检测信号是否应当被屏蔽;以及
使用与所述集成电路器件相关联的控制逻辑来实施故障处理程序。
12.根据权利要求11所述的方法,其中所述故障处理程序包括复位所述集成电路器件。
13.根据权利要求11所述的方法,其中所述故障处理程序包括删除加密密钥。
14.根据权利要求11所述的方法,其中所述多个信号包括测试使能信号。
15.根据权利要求11所述的方法,其中所述多个信号包括地址和数据配置信号。
16.根据权利要求11所述的方法,其中所述预期值保存在熔断器或配置随机访问存储器中。
17.根据权利要求11所述的方法,其中所述预期值是由控制逻辑所提供的变量。
18.根据权利要求11所述的方法,其中所述预期值是由用户逻辑所提供的变量。
19.根据权利要求11所述的方法,其中所述故障检测电路包括OR门的菊花链。
20.一种用于自动故障检测的系统,包括:
处理器;
耦合至所述处理器的存储器;
集成电路器件,包括可操作以向所述集成电路器件上所包括的信号树上发送信号的控制逻辑、可操作以在所述集成电路器件上实施用户设计的用户逻辑以及所述集成电路器件上可操作以对所述信号树上的多个叶子处的多个信号值进行监视的故障检测电路,其中所述故障检测电路可操作以响应于确定所述多个信号值中的第一信号值从预期信号值偏离而生成具有第一值的故障检测信号,并且其中所述控制逻辑在接收到具有所述第一值的所述故障检测信号时实施故障处理程序。
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