[发明专利]信号处理装置与信号处理方法

权利要求书

1.一种信号处理装置，其特征在于，包括：

处理电路，根据在光存储介质的第一完整旋转中得到的缺陷信号记录所述光存储介质上至少一个缺陷区域的缺陷信息；以及

信号产生电路，耦接于所述处理电路，通过根据所述至少一个缺陷区域的已记录缺陷信息调整所述光存储介质的第二完整旋转中得到的所述缺陷信号。

2.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所述处理电路根据在所述光存储介质的所述第一完整旋转中得到的所述缺陷信号决定所述光存储介质上的所述至少一个缺陷区域的位置，并且记录所述至少一个缺陷区域的缺陷位置信息作为所述至少一个缺陷区域的所述缺陷信息。

3.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，所述信号产生电路根据所数至少一个缺陷区域的已记录缺陷信息通过提前信号部分的起始点产生所述已调整缺陷信号，所述信号部分指示所述光存储介质上的相应缺陷区域并且所述信号部分包含于在所述光存储介质的所述第二完整旋转中得到的所述缺陷信号中。

4.一种信号处理装置，其特征在于，包括：

处理电路，检测信号部分的起始点，所述信号部分指示光存储介质上的相应缺陷区域并且包含于缺陷信号中，以及当检测所述信号部分的所述起始点时，所述处理电路估测在所述信号部分的所述起始点之前应用的最近伺服控制努力的量度；以及

信号产生电路，耦接于所述处理电路并且控制伺服控制电路以补偿在所述信号部分的所述起始点之前应用的最近伺服控制努力的所述量度。

5.一种信号处理方法，其特征在于，包括：

根据缺陷信号记录光存储介质上的至少一个缺陷区域的缺陷信息，其中在所述光存储介质的第一完整旋转中得到所述缺陷信号；以及

根据所述至少一个缺陷区域的已记录缺陷信息通过调整所述缺陷信号产生已调整缺陷信号，其中在所述光存储介质的第二完整旋转中得到所述缺陷信号。

6.根据权利要求5所述的信号处理方法，其中记录在所述光存储介质上的所述至少一个缺陷区域的缺陷信息的步骤包括：

根据所述缺陷信号决定所述光存储介质上的所述至少一个缺陷区域的位置，其中在所述光存储介质的所述第一完整旋转中得到所述缺陷信号；以及

记录所述至少一个缺陷区域的缺陷位置信息作为所述至少一个缺陷区域的所述缺陷信息。

7.根据权利要求5所述的信号处理方法，其中产生已调整缺陷信号的步骤包括：

根据所述至少一个缺陷区域的已记录缺陷信息通过提前信号部分的起始点产生已调整缺陷信号，其中所述信号部分指示所述光存储介质上的相应缺陷区域并且包含于所述缺陷信号之中。

8.一种信号处理方法，其特征在于，包括：

检测信号部分的起始点，所述信号部分指示光存储介质上的相应缺陷区域并且包含于所述信号之中；

当检测到所述信号部分的所述起始点时，估测应用于所述信号部分的所述起始点之前的最近伺服控制努力的量度；以及

控制伺服控制电路以补偿应用于所述信号部分的所述起始点之前的最近伺服控制努力的所述量度。